摘要
采用密度泛函B3LYP方法在6—31++g(3df,3pd)基组水平上,优化得到SiF4分子在不同外电场下(-0.04~0.04a.u.)的基态稳定构型、偶极矩、HOMO能级、LUMO能级、能隙、谐振频率和红外光谱强度.结果表明,分子结构与外电场有着强烈的依赖关系,随着正向电场的增大,分子总能量和能隙都先增大后减小,分子偶极矩随正向外电场的增大先减小后增大,同时,外电场对SiF。分子的激发能、振子强度和红外光谱强度均有一定影响.
出版日期
2013年06月16日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)