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X射线导常散射研究NiFe／Cu多层膜结构

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摘要本文利用X射线小角衍射和漫散射技术研究了两组具有不同GMR的NiFe/Cu多层膜样品的界面结构。利用在CuK吸收边附近的能量扫描得出了关于NiFe和Cu层的结晶性情况。结果表明两组样品在界面结构和结构性上有明显的区别。另外，我们还发现NiFe和Cu层的原子密度差别比块材料的差别大27％。

DOI 54k6lveyjk/1407109

作者罗光明;蒋海英;等

机构地区不详

出处《北京同步辐射装置年报》 1997年1期

关键词 X射线导常散射 NiFe/Cu多层膜结构

分类 [核科学技术][核技术及应用]

出版日期 1997年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

北京同步辐射装置年报

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