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TTL与非门集成电路的测试

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DOI 5jo6110kjv/1413812

作者朱智丹

机构地区不详

出处《新质量》 2002年6期

关键词 TTL 非门集成电路测试万用表非门逻辑功能半导体集成电路

分类 [经济管理][国民经济]

出版日期 2002年06月16日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

新质量

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