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测量I-V特性分析阻变存储器的导电机制

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摘要介绍了阻变存储器及其I-V特性的测试分析方法。通过测量三明治结构的阻变存储器的I-V特性,采用多种拟合方法,与导电机制原理对比,可以判断器件的导电机制,便于深入分析阻变机理。

DOI 54k6g9kljk/1652357

作者谢伟

机构地区不详

出处《大学物理实验》 2016年4期

关键词电致阻变 I-V特性导电机制

分类 [理学][物理]

出版日期 2016年04月14日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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