X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料中的主要元素

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摘要 镁质耐火材料中的主要成分需要进行分析,采用化学分析方法,分析周期长,工作量大,本文利用X荧光光谱法测定镁质耐火材料中的主要元素,成本低,周期短,准确度高,减少试剂的用量,避免使用大量对环境造成污染的化学试剂.
机构地区 不详
出处 《福建分析测试》 2007年4期
出版日期 2007年04月14日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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