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一种基于ATE测试机的高低温自动测试方法分析

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摘要摘要：本文介绍了一种基于ATE（自动测试设备）的高低温自动测试方法。该方法利用ATE设备的自动化和控制能力，结合高低温测试设备，实现对电子元器件在不同温度条件下的自动测试。通过分析测试结果，可以评估电子元器件在极端温度环境下的性能和可靠性。本文详细介绍了该方法的实施步骤和关键技术，以及在实际应用中的优势和挑战。研究表明，基于ATE的高低温自动测试方法可以提高测试效率、降低人力成本，并为电子产品的设计和生产提供重要的技术支持。

DOI odwll6q6e4/8420780

作者潘新宇

机构地区御渡半导体科技有限公司

出处《中国科技信息》 2024年6期

关键词

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2024年07月02日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）