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  • 简介:摘要对国际上公认的两种半导体器件热阻测试方法美军标MIL-STD-750F和JEDEC标准进行对比测试研究。通过双极性晶体管和MOSFET两种不同类型的器件,用Phase12进行实测,得到了不同方法下的热阻值与曲线。分析了两种测试方法原理及测试结果的差异,科研生产提供参考。

  • 标签: 一维传热 NMOSFET 结壳热阻Rthj-c K系数 温度敏感参数TSP