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光伏硅片厚度与线痕缺陷检测方法研究

作者：周双黄二阳
学科：建筑科学 > 建筑技术科学
创建时间：2024-04-10
出处：《中国科技信息》 2024年第2期
机构：1.320323198704030665

简介：**摘要**：随着光伏产业的迅猛发展，硅片作为光伏电池的核心组件，其质量直接影响到电池的光电转换效率。硅片厚度的均匀性及线痕缺陷的检测是确保硅片质量的关键环节。本文提出了一种基于光学干涉和图像处理技术的硅片厚度与线痕缺陷联合检测方法，实现了对硅片表面缺陷的快速、准确识别。实验结果表明，该方法具有较高的检测精度和稳定性，为提高硅片生产质量提供了有力支持。
标签： ****光伏硅片厚度检测线痕缺陷光学干涉图像处理

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新一代光伏硅材料检测技术及设备合作研发

作者：黄二阳周双
学科：建筑科学 > 建筑技术科学
创建时间：2024-04-10
出处：《中国科技信息》 2024年第2期
机构：1.410322198903202859 2.320323198704030665

简介：摘要：本文旨在探讨新一代光伏硅材料检测技术及设备的合作研发。随着太阳能行业的快速发展，对光伏硅材料的质量和性能要求越来越高。为了满足这些需求，各国科学家和工程师积极开展了与光伏硅材料检测相关的研究。
标签：

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