简介：摘要本文通过对航空喷气燃料的油样分析的部分数据，推测管道内的污染程度，针对性的指导通球扫线的必要性，毕竟管道进行通球扫线对管道有一定的损伤，所以操作规程更是慎之又慎，另外对颗粒污染物的造成因素进行了分析和解决意见。
简介：在亚微米的半导体生产制造技术中，二氧化硅工艺中的颗粒污染会造成漏电流形成击穿电压，已经成为产品良率的主要影响因素。文章主要针对目前市面上流行的TELAlpha-8SE的立式APCVD二氧化硅炉管制造工艺中所遇到的颗粒污染问题进行研究。通过大量的对比性实验，进行排查与分析，并利用各种先进的实验设备和器材，炉管、高倍度电子扫描设备、先进的光学仪器和缺陷分析设备等，找到产生颗粒污染的原因，并且找到解决问题的方案。在减少机台停机时间的同时，提高了机台的使用率，而且改善了颗粒污染的状况，最终获得良率的提升，优化了制造工艺。
跟踪管道颗粒污染及影响因素
二氧化硅工艺中颗粒污染的解决方案
