简介：封装是T/R开关的关键环节。开关封装失效主要包括外壳失效和LTCC基板失效。为了避免T/R开关失效,利用ANSYS14.0对封装进行模态仿真及加速度瞬态仿真,找出开关封装的加速度响应值以及受到应力时的频率特性,并通过随机试验和半正弦冲击试验验证仿真结果,验证封装可靠性。试验结果表明,目前的T/R开关封装可以保证组件能够承受40g以上的加速度冲击和振动。

简介：随着软件产品在社会生活中的广泛应用,软件产品的可靠性和用户的需求也在逐步提高。软件测试一般分为白盒测试和黑盒测试两种,而路径测试方法是白盒测试中最常用的方法。主要介绍了DD路-径和基本路径两种路径测试方法,并针对它们的测试用例的不同设计方法,分析了软件测试中的结构化测试方法在测试用例生成中的作用。

简介：<正>随着千禧年的到来,企业上网已成为今年风头最劲的话题。Internet在国内的应用日益广泛,越来越多的企业和政府机关借助互联网为公众提供服务,并以此宣传自身的形象。要提供这种服务主要有两种途径:一是采用ISP提供的虚拟服务器,缺点是不利于数据的实时更新和系统的修改;第二条途

简介：能源测试的误差主要来源于装置误差、环境误差、人员误差、方法误差四个方面,能源测试涉及设备广,测试项目种类多,具体测试中会遇到各式各样的问题,本文就误差理论学习和能源测试实践,对一些常见问题做简要阐述。

简介：LDO类IC（低压差线性稳压器）作为新一代集成电路稳压器,以其低噪声、高电源抑制比、低成本、高效率等特性,目前正广泛应用于各种供电系统中。输出电压（基准值）作为低压差线性稳压器最重要的参数是测试过程中最为重要也是最为关注的一项。在CP测试时,一旦输出电压因各种原因出现了偏差,将造成难以挽回的后果。探讨了提高LDO类IC基准值测试精度的一些方法。

简介：针对传统瀑布式测试不再适用于迭代式软件开发,探索式测试有效却复用性差的问题,提出了在测试设计阶段采用质量属性、用户场景和业务逻辑（QUB）设计方法框架进行探索式测试,并结合思维导图进行测试设计.应用实例表明,该测试方法为快速迭代开发模式下的系统测试提供了-种新思路,有利于提高迭代开发测试的效率与质量.

简介：文章介绍了SerialEEPROM的测试原理,提出了一种基于NiosⅡ软核CPU测试SerialEEPROM的方法,该方法具有稳定性高、所需器件少、可编程、低成本等优点.在SerialEEPROM的大量测试中可以代替昂贵的测试系统,是一种性价比较高的替代测试方案.

简介：随着经济发展和科学技术的进步,集成电路（IntegratedCircuit）产业保持着持续、快速的发展。作为集成电路产业链中的一个重要环节,集成电路测试在评价集成电路电性能、质量和可靠性等方面提供了有力的技术支撑,其中集成电路高压测试是进行电源管理、高压驱动等一系列芯片耐压单元性能检测的重要环节。主要研究集成电路成品高压测试过程中存在的一些问题以及相应的解决方案。

简介：针对采用测试工具辅助完成高可靠性的军用软件测试工作,从不同方面描述了测试工具在信息系统软件测试中所能执行的功能,并给出一些测试工具的使用及测试脚本样例。实践表明,合理使用测试工具和测试方法,能够有效消除人为失误,提高软件测试的效率和信息采集的准确度。

简介：介绍了光无源器件偏振依赖损耗的几种测试方法,并对它们的优缺点进行了比较.

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简介：随着移动通信用户数量的急剧增长，移动用户对蜂窝移动通信系统的覆盖范围和信号质量要求也越来越高，移动通信直放站以其有效性和经济性得到广泛应用。与基站相比，直放站由于其投资较少、结构简单、安装方便灵活等优点，广泛应用于一些弱信号区域或盲区，如电梯、地下车库、宾馆、山上风景区、地铁、隧道等场所，并能有效地改善这些地区的通信质量。目前，直放站已经成为无线网络优化的一种重要手段和延伸网络覆盖距离的一个优选方案。

简介：OKI高速数码彩色页式打印机产品在2003年8月才正式进入中国市场，虽然比起已占据国内市场多时的其它品牌来得迟了很久，但却是在全球最大的图文快印连锁品牌SirSpeey进入中国，国内数码快印市场悄然升温的时刻，可以说来的正是时候。再加上OKI公司市场定位准确，首次发布的OKIC9500便由处于世界领先地位、占据全球80％彩色输出服务器市场的图像解决方案开发商EFl(ElectronicsForImaging)公司为其量身定做了一套应用于彩色输出行业的色彩管理软件-BestCororproofforOKIC9500版，合作推出“OKIC9500+Bestcolorproof”彩色输出解决方案。使得配置子该解决方案后的C9500在原本拥有30页／分的打印速度优势的同时实现了足以模拟胶印的色彩效果。

简介：随着集成电路设计规模的不断增大，在系统芯片SoC（SystemonaChip）中嵌入大量的SRAM存储器的设计方法变得越来越重要。文中介绍了SRAM的典型故障类型和几种常用的测试方法，同时详细分析了嵌入式SRAM存储器内建自测试的实现原理以及几种改进的March算法，另外，以16k×32bitSRAM为例，给出了SRAM内建自测试的一种典型实现，并在Altera—EPIS25上实现．

简介：文章主要阐述了I^2C总线控制音响电路的工作原理，探讨I^2C总线控制音响电路的测试方法，介绍了在A370测试系统上使用高速数字模块（M621）对I^2C总线控制的编码方法以及配合M625和M601模拟模块对输出音频信号进行测试的软件开发。

简介：提出了一种宽带高速网络电台灵敏度测试的方法。首先分析了现有测试方法的缺陷,然后分析了采用复杂数字调制的宽带高速网络电台的基本原理,提出了利用仿真中产生的波形文件和信道模型,利用矢量信号源提供的IQ调制、衰落,进行灵敏度测试。实验表明该测试方法可行,并具有一定的通用性。

简介：随着熔丝在电路设计中的应用普及,测试环节对熔丝修调的要求也越来越高,对测试人员提出了更大挑战。修调熔丝的目的是为了获得更精确的电压、频率或其他特性。为了提高测试效率,需要在多管芯并行测试的情况下,提高熔丝修调的准确性和修调速度。文章介绍了常见的熔丝特性及典型熔丝类集成电路在多管芯并行测试情况下的熔丝修调方法,并进一步研究了降低修调环节对测试系统资源的占用、提高修调效率、简化测试程序等几个方面的优化方法。

简介：通过GQM范式建立了软件测试过程效率度量指标体系，阐述了指标体系中各种模糊因素的模糊数学处理方法，构造出测试过程效率模糊决策模型，解决了测试过程效率难以定量评价的问题，提高了软件测试过程效率判断和决策的准确度和可信度，并以一个实例验证了该方法的可行性。

简介：1、天线的分类针对我国无线通信网络覆盖的需求，为了对设计、生产、选型及测试进行指导，行业制定了基站天线的标准：YD1059—2004《移动通信系统基站天线技术条件》。

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