简介:摘要:本文介绍了扫描电镜的基本理论,对各组成部分逐一阐述,探讨特殊半导体样品的制备和电镜操作技巧,从而实现最佳的观测结果。
简介:摘要:和田玉作为中国传统文化的重要组成部分,其独特的显微结构特征对鉴别和评价具有重要意义。本研究通过显微镜检测和田玉的结构特征,主要聚焦于其晶体形态、矿物组合及微裂隙等方面的分析。研究结果显示,和田玉的晶体形态主要以纤维状和柱状为主,矿物组合以透闪石为主,伴有少量的阳起石和方解石。和田玉的微裂隙在显微镜下清晰可见,且裂隙内多填充有次生矿物。本文通过详细的显微镜分析,揭示了和田玉独特的显微结构特征,为其鉴别提供了科学依据,并对和田玉的成因及质量评估提供了新的视角。研究的结果不仅有助于提高和田玉的鉴定准确性,还对其市场价值评估具有重要参考价值。
简介:摘要:偏光显微镜主要是通过双光干涉的原理,让条纹的变化更加明显,并可以表现出较好的立体感,也可以伴随着偏振角度的变化,让纤维的色彩更加丰富,色彩的反差也可以明显提升。同时偏光显微镜法也能够让纺织品中的纤维产生出彩色条纹,这种条纹可以在晶体薄片中得到固定。在偏振角度以及纤维自身没有得到改变的前提下,干涉的图像也是基本稳定的,这也是通过使用偏光显微镜能够取得较好鉴定效果的重要条件。本文为了能够充分地展现偏光显微镜照相在纺织品检验中的应用,采用实验的方式进行。实验共划分为两个小组,在A组中分别收集50份的亚麻样品和大麻样品。在B组中分别收集50份尼龙丝样品和人造丝样品。然后分别利用常规生物显微镜和偏光显微镜对其进行照相实验,从而观察大麻和人造丝的检出率。
简介:摘要:显微镜是人类研究客观世界的眼睛,其中,透射电子显微镜( transmission electron microscopy,简称 TEM)是应用最广泛的、具有纳米级别表征能力的显微镜,常用于生物、半导体、材料学领域。 TEM技术发展涉及电子腔、电磁透镜、 HRTEM、 STEM等方面,近些年来球差矫正技术的发展使得 TEM的分辨率提升了一个数量级。而本文针对 TEM样品杆专利技术的发展进行了梳理,是因为样品杆是 TEM观测中用于承载样品,实现特殊观测需求(如原位观测,力学、热学、电学测试)的重要部件,价格昂贵,有的原位样品杆的价格甚至占到 TEM整体价格的一半,并且国内 TEM样品杆技术有一定的技术积累。因此本文首先阐述了全球发展趋势以及在各国的分布情况,介绍了几个重要申请人的专利申请情况,其次对专利技术发展路线进行梳理总结。通过上述分析研究,以期为相关领域的专利审查提供参考。
简介:摘要:材料微观金相组织的好坏,直接影响到材料的综合性能、耐磨性及使用寿命,得到了社会各界的广泛关注。本文以45#钢试样为例,通过淬火处理后,采用FANUC CNC数控车床将淬火后的45#钢的截面加工成平整的平面。采用手工方式,将加工完成的平整平面在试样抛光机上进行多次抛光,打磨后的材料表面在金相显微镜下进行观察。实验结果显示,当材料表面被打磨掉2μm时,在保证材料性能的前提下,材料表面的微观金相效果最好,大大提高了材料的耐磨性和综合性能。通过本实验的实施,为今后45#钢材料表面的抛光处理提供了实验基础。
简介:摘 要 本文通过对万能工具显微镜智能化改造后检定方法及不确定度的分析,确保可以开展改造后万能工具显微镜的检定校准工作,保证量值传递的准确可靠,确保万能工具显微镜精度准确可靠从而保证检测各类样板、螺纹等工件的精度。
简介:摘要:目的 研究尿液分析仪检验与显微镜红细胞计数检验在尿液隐血检验中的应用价值。方法 选取诸城市某医院2022年10月至12月予以尿隐血检查的112例受检者作为研究对象,受检者均进行尿液分析仪检验和显微镜红细胞计数,对比分析其阳性率、准确率、敏感度。结果 进行尿潜血检验患者的外科患者居多,其次是肾内科(已排除肾脏功能不全者)。尿液分析仪检验和显微镜红细胞计数两种检验方式结果进行比对,得出尿液分析仪检验患者尿潜血的准确率为79.75%,阳性率为83.04%,相比显微镜红细胞计数法检验的67.74%,阳性率70.53%更高,组间差异有统计学意义(2=2.059,P
简介:摘要:在现代科学技术高速发展的背景下,电催化领域的研究日益受到人们的关注。电催化是电化学领域的重要分支,但是电催化反应过程涉及复杂的电子传递和界面反应,对其微观机制的理解一直是科学家们面临的挑战。因此,开发一种能够实时监测电催化反应过程,并揭示其反应机制的技术手段显得尤为重要。原位电化学扫描探针显微镜技术(In-situ Electrochemical Scanning Probe Microscopy, EC-SPM)作为一种新兴的表征手段,以其高分辨率、实时性强的特点,在电催化领域的应用中逐渐崭露头角。
简介:摘要:电子元器件失效分析是通过对失效件的解剖、观察、分析研究,找出失效机理,查明造成失效件故障的根本原因,进而提出电子元器件改进措施,提高产品的良品率及可靠性。在电子元器件的设计、生产、测试以及应用等环节中,都离不开失效分析。随着电子元器件功能的多样化,外观的微型化,对于电子元器件失效分析能力的要求越来越高,如何对失效位置进行准确的定位成为失效分析的关键所在[1]。
简介:摘要:本文介绍了扫描电子显微镜-能谱仪(SEM-EDS)在多层镀层厚度测量研究中的应用。扫描电子显微镜是通过背散射电子原子序数衬度不同来显示镀层与基体之间的界限,不需要对试样进行侵蚀步骤,制样比较简单,为了防止误判也可以用能谱仪来判断镀层的化学成份。