简介：详细解释大学物理实验中用到的灵敏度、分辨率以及精度的概念,帮助学生认识仪器参数,更好地完成实验内容及误差处理。

简介：本文以ＩＢＭ—ＰＣ机与ＭＣＳ—５１单片机间的串行数据通信为例，分析了波特率对微机串行通信的影响，讨论了微机串行通信彼特率的设置方法．

简介：讨论了最小偏向角法测量三棱镜玻璃折射率的理论和实验，可有效地解决测量玻璃折射率实验中所出现的问题。

简介：用干涉法对菲涅尔双棱镜的棱角及玻璃折射率进行了测量；测量结果有一定的精度，有利于帮助学生分析讨论分波前干涉现象。

简介：对空间目标实现红外探测建模仿真时，需要对空间目标在空间环境下的热温度场进行分析和模拟计算，计算的边界条件之一是目标表面材料热特性参数。以往的做法是通过相关资料中提取这些参数，但都是理论值，实际材料的热特性与目标生产工艺有关，可能与理论值有很大的差别，采用这些数据会对空间目标在轨热分析的模拟计算中产生误差甚至错误。

简介：介绍了超分辨率复原方法的概念和理论基础；重点总结了常用的超分辨率复原方法，并对相关的理论依据、优缺点和适用范围进行了详尽分析；对超分辨率复原方法的未来发展进行了展望。超分辨率复原方法分为频域法和空域法。频域复原法原理简单清楚，计算方便，但是所建立的运动模型都是平移模型，不具有一般性，同时难以利用正则化约束，因而导致难以使用图像的先验信息进行超分辨率复原。空域复原法可以很方便地建立复杂的运动模型，同时考虑了几乎所有的图像降质因素，例如噪声、降采样、由非零孔径时间造成的模糊、光学系统降质和运动模糊等，还可以加入更完善的先验知识，相比于频域复原法，空域超分辨率复原模型更符合实际的图像退化过程，是目前应用最广泛的一类超分辨率复原方法。

简介：为了充分利用LAMOST望远镜,实现对银河系不同星族的分布与整体性研究,以及极端贫金属星元素丰度测定等科学目标,研制了LAMOST高分辨率光谱仪,光谱分辨率R≥30000,光谱覆盖范围380~740nm。在充分考虑台址因素与现有条件后,采用中继倍率0.7倍的准白瞳设计方案,使用大芯径光纤、拼接大光栅、棱栅组合式横向色散器、缝前像切分器等措施来满足性能要求。进行了效率估算与杂散光分析,光谱仪本体效率峰值大于30%,杂散光照度占CCD总照度的2.55%,信噪比为16.01dB。试运行阶段实测了太阳光谱,温度稳定性达到±0.03℃,光谱仪效率峰值约为33.5%,满足稳定、高效的运行要求。

简介：介绍用JxDB型读数显微镜(即镜筒附有标尺的移测显微镜)测定液体折射率的方法。

简介：在前人关于生物搜索行为的奠基性工作上开创了信息丢失条件下的搜索行为。并以真实蚂蚁作实验,得出了该条件下蚂蚁搜索行为的一些特征,作出部分唯象描述及给出一些定量的结果,并提出了进一步研究的一些方向。

简介：在探视法测量液体折射率的基础上利用逆向思考法自制出液体折射率测量仪,该测量仪演示实验现象明显,教学效果较好.并对以上两种测量方法进行对比实验,结合其不确定度、误差分析进行了比较性分析、研究,得出设计结论.

简介：根据统计规律,用刚性弹性球模型,讨论单原子分子气体分子碰撞的动量、动能交换问题,结果表明平均交换率均为三分之一。

简介：对一款CCD进行了3MeV质子辐照试验和退火试验,获得了2种注量率质子辐照下CCD参数的退化规律,分析了CCD产生缺陷与质子注量率之间的关系。研究表明:不同注量率质子辐照下,CCD中产生的位移损伤缺陷存在差异,但CCD的暗信号和电荷转移效率没有明显改变,且室温退火后,不同质子注量率辐照下,CCD受到的辐射损伤差异更小。研究结果可为揭示地面模拟实验中质子入射CCD产生缺陷的机制、影响因素及建立质子辐射效应损伤模型提供理论与试验方法的支撑。

简介：液体折射率是反映液体浓度、温度等特性的重要性能参数,因而可通过测量其折射率来获得液体其它相关参数。本文采用去除包层的弯曲光纤,以待测液体作为光纤包层,设计了一种液体折射率传感器,并制备了该传感器,对其进行了实验测试,获得了较为满意的实验结果。该液体折射率传感器结构紧凑、易于制作、费用低,在实时、远程检测方面具有突出优势,故在医药化工、医学诊断、食品安全以及环境监控等诸多领域中具有广阔应用前景。

简介：变像管相机是唯一具有时空二维观测能力的超高速光电测试设备，时间分辨本领几个皮秒乃至亚皮秒，空间分辨本领几十微米。该产品能把微弱的瞬态光通过光学成像系统投射到变像管的光阴极转换成在数量上和光强成正比的电子，再经高速线性扫描电场扫开轰击荧光屏成像，最后采集到CCD相机，

简介：电磁波在传播过程中如果遇到障碍物,就会产生反射和折射现象,并且遵守反射定律和折射定律。本实验利用一个金属板作为反射体,利用蒸馏水、乙醇、糖溶液（80%）作为折射体,验证了电磁波中反射现象和折射现象,同时测量出了液体的折射率。

简介：文章通过掠入射法测定液体折射率实验中的光路分析，以确定最佳的实验方法，使得观察视场中的阴暗分界线最为清楚，便于寻找，提高测量精度。

简介：介绍用分光计和JxD-B型移测显微镜测定双棱镜折射率的方法。

简介：用有限时域差分方法（FDTD）对比研究了下列二维光子晶体的带隙：第1组,半径r=0.2μm圆柱,折射率n=4,晶格常数a=0.4μm;第2组,半径为r=0.2μm圆柱,折射率n=4,晶格常数a=0.6μm;第3组,内半径r1=0.1μm,外半径r2=0.2μm,折射率n=4,晶格常数a=0.4μm;第4组,内半径r1=0.1μm,外半径r2=0.2μm,折射率n=4,晶格常数a=0.6μm,并且对每一组光子晶体进行挖孔操作,然后比较不同填充率对光子晶体材料的带隙的影响,以及同种材料和结构、挖孔对带隙的影响。对于紧密排列的二维光子晶体,挖孔会使带隙向长波方向移动;对于填充率小的光子晶体,或者环形柱二维光子晶体,中间挖孔不影响带隙的范围。

简介：研究在用迈克尔逊干涉仪测量气体折射率时存在的系统和方法误差,提出了误差修正方法.

简介：采用多陷阱的理论方法,模拟了不同剂量率辐照下MOS电容的总剂量效应,分析了氧化层空间电荷场效应与辐照剂量率的关系.研究了氧化层中浅能级陷阱、深能级陷阱对界面俘获电荷和半带电压的影响.研究结果表明,相对于高剂量率辐照,低剂量率在Si/SiO2界面附近俘获更多的空穴,导致产生更大的半带电压漂移;空间电荷场效应是由高、低剂量率辐射损伤差异造成的;浅能级陷阱俘获的空穴主要支配着氧化层电荷的传输特征,被深能级陷阱俘获的空穴是永久性的,是引起器件半带电压漂移的主要原因.