简介：日本东京大学生产技术研究所藤田博之研究室和法国国立科学研究中心(CNRS)合作，利用微机械技术试制出超小型光矩阵开关。该开关用静电工作的微透镜阵列来改变自由空间传输的光束方向，以进行光输入输出问的多个转换。其特征是比起利用非线性光学效应的已往的固体式光开关，长宽尺小1/10多，消光比高，串音减。

简介：讨论了分数傅里叶变换与菲涅尔衍射的关系,提出球面衍射过程就是一种具有尺度因子的分数傅里叶变换,并应用分数傅里叶变换进行衍射光学元件的设计.

简介：分析了谱共轭技术用于补偿光纤色散和非线性的基本原理。通过对超高斯脉冲的数值计算表明，谱共轭技术（SPC）较时域相位共轭技术（TPC）能更好地恢复波形失真。为了弥补SPC不能补偿脉冲内拉曼散射的缺点，提出将SPC和TPC结合使用的方法。将其作用于光孤子串脉冲，不仅进一步优化了整形效果，而且还能有效抑制孤子自频移。

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简介：为了解决传统数据采集压缩利用率低的问题,提出了基于压缩感知原理的动态投影照明实现单像素成像的新方法,即采用普通液晶投影仪把随机测量图片动态投射到物体上,再用光电探测器响应和记录每次投影光透过待测物体后出射的总光强。然后应用正交匹配追踪算法对所记录的光强信号进行重建运算,还原出物体图像,并对压缩感知过程的不同采样率与分辨率的重建图像效果进行了实验比较。实验结果表明,在采样率为30%左右时,可以精确重建出原始图像。因此,这种动态投影的方法能够较好地实现单像素成像过程。

简介：通过GPIB接口,使用VC进行编程,设计了快速测量光通半导体放大器（SOA）各项性能参数的自动测试系统.该系统使得一台计算机同时控制多台光器件测试仪器,并产生详尽的数据报表.该系统提高了工作效率,降低了生产成本,并具有良好的可扩展性.

简介：透明元抽杀方法通过对透明组元抽杀从而简化了非周期序列，不必进行复杂的计算就可以得出一维非周期超晶格薄膜系统光透率的主要特性。采用TCD方法研究了B类广义Thue-Morse[FBGTM（m）]非周期超晶格薄膜系统的光透射性质，直接得到了在中心波长处的光透射系数，所得结果和以前发表的结果完全一致。

简介：掺铒光纤（EDF）中的自发辐射噪声是影响掺铒光纤放大器（EDFA）工作性能和掺铒光纤激光器（EDFL）的起振特性的重要因素。自发辐射与泵浦方式紧密相关,研究脉冲泵浦下EDF的自发辐射具有重要的学术意义。从速率方程出发,建立了任意波形脉冲泵浦下EDF自发辐射的能级粒子数分布所满足的一元二阶变系数微分方程。由于没有封闭形式的解析解,采用杜哈梅尔方法,将泵浦脉冲波形进行分时段描述,每个小时段都有解析解,从而得到了自发辐射的平均功率表达式。分析结果表明,随着泵浦功率的增大,ASE的输出波形更接近泵浦光的波形,且泵浦光的毛刺对于ASE噪声的影响较小。

简介：利用MOCVD技术，分别在图形化蓝宝石衬底（PSS）、沉积有AlN薄膜的图形化蓝宝石衬底（PSS-A）和经过选择性刻蚀掉部分AlN的AlN薄膜的图形化蓝宝石衬底（PSS-E）上外延生长GaN。在高倍金相显微镜下面观察了生长的表面形貌，利用AFM测量了外延片表面的粗糙度，对比分析了三种样品（002）面和（102）面XRD的FWHM，然后对三个样品切片，SEM观察了三种样品的剖面图，最终将三种样品衬底的外延片制备成相同产品，对比分析了样品的LED芯片的光电参数。

简介：阐述了舰用遮蔽式烟幕干扰的工作机理，对典型舰用遮蔽式烟幕干扰进行了数学模拟仿真，建立了舰艇、烟幕、导弹的数学模型，提出了干扰评估准则，给出了仿真流程图。并对多次仿真结果进行了统计分析，获得了烟幕弹战斗使用的一般规律。

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简介：简要介绍了有机电致发光器件的结构、电致发光机理、可用作电致发光材料的种类以及存在的一些问题,简述了电致发光材料及器件的研究现状及对未来的展望.

简介：阐述了高光谱遥感的特点、优势,以及在航空及航天领域的发展情况,列举了几种典型高光谱成像仪的光学系统原理和主要技术指标。在此基础上,概述了高光谱遥感在植被生态、大气环境、地质矿产、海洋、军事等领域的应用情况。最后对高光谱遥感发展趋势提出了几点建议,包括低反射率目标遥感、高信噪比、高空间分辨率及宽覆盖范围等方面。

简介：变换光学（TransformationOptics）可以使几何空间上的变化转移到非均匀光学超材料的光学参量的变化上。光学隐身就是其中典型的例子，就在几年前人们还认为这是不可能的。为了制备光频段、宽带、偏振不敏感、三维的光强、相位隐身材料，利用激光直写结合受激辐射耗尽技术，可以突破传统的衍射极限。这种变换的思想同样可以应用到其他领域，如力学（确切地说，弹性动力学）和热力学。还讨论了相关的实验过程和研究结果。

简介：以钢板表面检测图像数据采集与处理的应用为背景，设计了3GSPS（GigaSamplesPerSecond）超高速数据采集与处理平台。采用时钟双边沿采样的方式提高采样率，使得系统最高采样率达到3GSPS，采用FPGA芯片解决了ADC采样后高速数据的采集与存储的难题。该平台的通用性以及灵活性较强，可在钢板表面检测图像系统中得到广泛的应用。