简介：卫星上某些绝缘介质受空间等离子体作用,容易发生充放电情况.该过程中,介质电导率是影响充放电特征的关键参数.采用表面电位衰减法,可以得到接近实际工况的介质本征电导率.因此,采用表面电位衰减法,首先分析表面电位衰减法对测试结果的影响因素,然后研究3keV电子束辐照后不同厚度试样表面电位衰减过程,获得电路板材料（Fr-4）和聚酰亚胺（PI）的本征电导率为10~（-16）S/m量级,总结出试样厚度和电子能量对表面电位衰减测试电导率的作用规律.
采用表面电位衰减法测试星用典型绝缘介质电导率
