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简介：软X射线计量标准的建立和软X射线探测器标定是目前国内急需解决的课题，本文简单介绍了两套北京同步辐射软X射线装置，它们主要用于软X射线光学元件测量和软X射线探测元、器件的标定。另外给出了近年来在软X射线测量装置上开展的计量标准和探测器标定方面的研究结果。

简介：简单介绍了2套北京同步辐射软X射线装置，主要用于软X射线光学元件测量和软X射线探测元、器件的标定。给出了在软X射线测量装置上计量标准和探测器标定方面的研究结果。

简介：Tosolvetheproblemonthemicrostructuralcharacterizationofmetallicsuperlattices,takingtheNiFe/Cusuperlatticesasexample,weshowthatthesturcturesofmetallicsuperlatticescanbecharacterizedexactlybycombininglow-angleX-raydiffractionwithhigh-angleX-raydiffraction.First,wedetermineexactlythetotalfilmthicknessbyastraightforwardandprecisemethodbasedonamodifiedBragglawfromthesubsidiarymaximaaroundthelow-angleX-raydiffractionpeak.Then.bycombiningwiththesimulationofhigh-angleX-raydiffraction.weobtainthesturcturalparameterssuchasthesuperlatticeperiod,thesublayerandbufferthickness,Thischaracterizationprocedureisalsoapplicabletoothertypesofmetallicsuperlattices.

简介：根据8．5XAFS束线改进工程的需要，我们设计了一种应用于同步辐射光束线的狭缝，该狭缝不但可限制同步辐射光束的截面尺寸，同时具有光束线位置探测功能。可以方便地测量光束的垂直分布及中心位置：迅速准确地准直狭缝及对光束移动做实时监测。

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简介：密集散射体体系的小角散射往往存在干涉效应的影响[1]。所谓密集体系并不一定意味着有相当大的样品浓度，往往散射体的实在体积与样品体积的比值大于5％对散射曲线就有较大的影响。密集散射体之间的相互干涉效应理论上较难分析，因为这时的散射强度不仅取决于散射体按大小的分布，而且还取决于它们在空间的位置分布。在较大角域大散射体的散射强度接近于零，实质上不参与干涉：在很小角域各种散射体的散射强度均比较高而相互干涉。这时由实验曲线计算出的散射体的几何尺寸值将小于真实值。

简介：介绍在北京同步辐射装置上进行的国内首次LLL型X射线干涉实验研究，在X光底片上观察到了Moire干涉条纹，为进一步利用X射线干涉技术实现纳米测量打下了初步基础。

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简介：InsituhighpressureopticalabsorptionmeasurementsofsulfurhavebeencarriedoutbyusingDACdevicewithaTASCOV-550UV-VISspectrophotometeratpressuresupto41.6GPa.Thecurvesofabsorptionedgevspressurewereobtained.inwhichtherearetwoturningpointsatabout5and12GPa,correspondingtotwochangesofcolourintheopticalobservation:oneisfromyellowtoredandtheotherfromredtoblackat5-6\5and10-12GPa,respectively.Theabsorptionedgereachesabove800nmwhenthepressureisincreasedto23GPa.Thesturctureandphasetransitionshavealsobeeninvestigatedbyusinginsituhighpressureenergy-dispersivex-raydiffractionwithsynchrotronradiationatpressuresupto33.7GPa.Nostructurephasetransitionoccursat5-6GPa.butthereisanewhigh-pressurephase,causedprobablybythereorientationororderingofS8.

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简介：软X射线干涉测量是通过软X射线激光经过马赫-詹德干涉仪完成的，是测量驱动激光临界面附近等离子体状态的重要方法。本文基于软X射线多层膜的性能特点，指出软X射线干涉测量的干涉仪各光学元件的入射角越接近正入射越好，分束镜的设计应以其反射率和透过率的乘积为衡量标准。用离子束溅射法制作了类镍银13．9nm软X射线激光干涉测量所需的分束镜，实测表明其面形精度达到纳米量级，反射率和透过率乘积大于1．6％。

简介：本文介绍北京同步辐射装置(BSRF)小角X射线散射实验站实验数据的初步处理方法，即由成像板探测器检测到的散射信号转换成角度及其对应的强度数据的方法，并对数据转换过程中可能遇到的问题进行了详细的讨论．

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简介：用小角X射线散射（SAXS），Raman谱，红外透射谱等研究高氢稀硅烷热丝法（HWCVD）制备氢化微晶硅膜微结构，结果表明微晶硅的大小及在薄膜中的晶态比随氢稀释度的提高而增加。SAXS表明薄膜致密度随氢衡释度的增加而增加。结合红外谱和SAXS的结果讨论了不同相结合下硅网络中H的键合状态。认为在非晶硅膜中H以SiH键为主，在微晶硅膜中H以SiH2为主且主要存在于晶粒的界面。

简介：通过在北京高能所3W1束线上进行的X光深层光刻工艺研究，获得了侧壁光滑、陡直、厚度达100μm，深宽楷比达20的光刻胶和金属微结构，表明该光束线适用于LIGA技术的研究。

简介：Photoconductivityspectrameasurementofpolymersatx-rayenergiesaroundtheZnandCoKedges,showsobviousx-rayabsorptionfinestructureoscillations.Thephotoconductivityspectraobtainedforgappedandsandwichedelectrodegeometricsamples,indicatethattheshapeofphotoconductivityspectrumdependsontheelectrodeconfigurationofthesamples.Thethicknessoftheconductionlayercanbeestimatedfromthephotoconductivityspectrum.