简介:严肃异例在三种尺寸照亮表面下的岩性学和地质的结构,它为隐藏的差错,沉积的盆,地下室岩性学,和另外的地质的目标的研究是重要的。尽管并非所有地质的接触对应于lithological接触,印射的接触在结构的政体,变丑式样和趋势上提供关键信息。为印射的接触的许多技术被开发了。这里,我们评估用于gridded数据的五个方法。开始的二是严肃地(GFhgm)的水平坡度大小,并且倾斜TIhgm)。第三和第四依靠定位分析信号的最大值(作为)并且3D本地人wavenumber(LW)。第五是规范的标准差(NSTD)方法。在这篇文章,我们为印射接触评估这五个方法的使用并且比较结果。首先,合成垂直地站在一起的模型被用来确定从真接触地点的最大值的偏移量由于有限来源厚度,中央深度,和宽度的来源效果。第二,接触剧降的效果被讨论。最后,一个真实数据集合被用来评估每个方法的能力面对噪音和gridding人工制品生产协调接触趋势的地图。