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  • 简介:密封电子元器件在长时间存放后,会存在无法检测的现象.当超过密封件细漏检测的最长候检时间时,应再次压氦,然后进行细检漏.按现行的各种规范的规定,压氦和预充氦再压氦的条件、程序和判据一般均与首次压氦相同,但分析表明,这样可能会使测量漏率判据出现成倍或更大的偏差,有时会出现大漏的漏检和细漏的错判.推演出多次压氦和预充氦压氦的测量漏率判据公式,给出了相应的压氦条件和细检漏的最长候检时间,从而更为便捷准确地解决了长候检时间下的密封性检测问题.

  • 标签: 氦质谱细检漏 多次压氦法 预充氦压氦法 测量漏率判据 压氦时长 最长候检时间
  • 简介:<正>2014年3月13日——意半导体(STMicroelectronics,简称ST)积极扩大压力传感器的市场份额,新推出的LPS25H微型压力传感器以其为移动应用优化的独特创新功能赢得一线智能手机厂商的青睐。据IHS研究报告显示,随着消费者对更先进的新款智能手机和平板电脑的需求日益提高,全球消费电子产品压力传感器市场规模将于2017年达到3.75

  • 标签: 压力传感器 半导体 智能手机 意法 应用优化 创新功能
  • 简介:针对均匀线阵提出了一种对同时存在阵元位置误差、幅相误差及阵元互耦的阵列进行校正的方法。该方法通过旋转阵列天线得到多个校正方位的样本数据,达到多个信源独立分时校正的效果,然后通过对空时矩阵进行特征分解,得到实际阵列流型的估计值,并构造代价函数,最后采用迭代算法同时估计出所有阵列误差参数,从而实现误差的校正。计算机模拟仿真及实际阵列天线的校正实验均验证了该算法对误差参数估计的有效性和校正方法的实用性。

  • 标签: 均匀线阵 阵列误差校正 时空矩阵 特征分解
  • 简介:针对飞机、舰船和车辆等运动平台上不同类型主/被动传感器信息融合难点,分析了运动平台姿态对目标方位和俯仰角测量值的影响,讨论了受平台姿态变化影响的侧倾角、前倾角、平面旋转角、平面旋转轴角、目标假方位和假俯仰角等有关概念和定义,推导出受姿态变化影响的平台直角坐标系与平台空间直角坐标系关系,给出了运动平台传感器测量参数与目标地理位置之间正反变换解析方法,结果支持运动、固定平台传感器测量系统坐标统一。

  • 标签: 坐标变换 运动平台姿态 前倾角 平面旋转角
  • 简介:为了精确跟踪目标,提出了一种改进的灰关联分析——灰色优势分析。该方法实现了雷达与电子支援措施(ESM)方位信息关联,提高了ESM引导雷达干扰机方位精度。仿真试验表明,该方法改善了重频跟踪器对辐射源的跟踪性能。

  • 标签: 灰关联分析法 灰色优势分析法 雷达 电子支援措施