简介:伴随着CMOS工艺技术的发展,CMOS电路已经成为VLSI制造中的主流,而CMOS器件特征尺寸的快速缩小和CMOS电路的广泛应用,使得CMOS电路中的latch-up效应引起的可靠性问题也越来越受到大家的重视。阐述了CMOS工艺中闩锁的概念、原理及其给电路的可靠性带来的严重后果,深入分析了产生闩锁效应的条件、触发方式,并针对所分析的闩锁原因从版图设计、工艺改良、电路应用三个方面提出了一些防闩锁的优化措施,以满足和提高CMOS电路的可靠性要求。
简介:非物质文化遗产的外宣翻译和国家当前提出的"文化走出去战略"不谋而合。归化异化翻译理论更适合于翻译中文化因素的处理已得到了翻译界的认可。文章以扬州大运河非物质文化遗产外宣翻译为研究对象,针对非遗外宣翻译的目的及特点,以功能语境理论为指导方针,以归化异化翻译为手段,来探讨非物质文化遗产的外宣翻译。
CMOS工艺中抗闩锁技术的研究
基于功能语境视角下的非物质文化遗产外宣归化异化翻译——以扬州大运河外宣翻译为例