简介：用X射线反射方法研究了分子束外延技术生长的Si中Ge薄层异质结构的Ge原子分布特性．根据X射线反射理论及Parratt数值计算方法对实验反射曲线的模拟，得到不同厚度的Ge薄层异质结构样品中Ge原子的深度分布为非对称指数形式：在靠近样品表面一侧的衰减长度为8埃，而在靠近样品衬底一侧的衰减长度为3埃，且分布形式与Ge原子层的厚度无关。讨论了不同结构参数(Ge原子薄层的深度、Ce原子分布范围、样品表面粗糙度、样品表面氧化层厚度等)对样品低角反射曲线的影响．
简介：采用薄层色谱法分离菠菜叶片中的色素,并对其胡萝卜素的鉴别和含量测定.以硅胶G作为吸附剂,石油醚/乙醇/丙酮=3/2/1（体积比）的混合溶液为提取剂,石油醚/丙酮=2/1（体积比）的混合溶液为展开剂为最佳条件,提取和分离菠菜色素.菠菜中的胡萝卜素用薄层扫描仪在波长464.5nm条件下进行测定.结果表明,胡萝卜素在0.03～0.21μg范围内呈现良好的线性关系（r=0.9998）,加标回收率为95.25%～96.44%,相对标准偏差为0.59%.该方法的重复性、稳定性均满足分析的需要.
Ge薄层异质结构的同步辐射X射线反射法研究
薄层色谱法分离菠菜色素及胡萝卜素含量测定
