简介:
简介:提出了当多孔体系的小角X射线散射不遵守Porod定理的情况下,应用Debye法(相关函数法)和Guinier法(逐级切线法和多级斜线法)计算它们的平均孔径的方法。对不同制备条件下部分二氧化硅干胶凝的测试,取得了比较一致的结果,并与氮气吸附法测定结果进行了对比。
简介:测定了真空蒸镀的WO3薄膜电致变色前后的谱,发现钨原子与周围的氧原子的作用距离随着阳离子(K^+,Li^+)注入电量的增加而增加,说明阳离子的注入对WO3的微结构有影响。
简介:利用原子力显微镜,同步辐射X射线形貌术和化学腐蚀光学显微等方法深入研究了KTiOAsO4晶体缺陷中的铁电畴和位错。首次用原子力显微镜给出了用两种腐蚀剂腐蚀过的KTA晶体表面的铁电畴和位错蚀坑的照片及定量信息,如发现铁电畴的明区要高于暗区,且两者的粗糙度明显不同。这为研究各种晶体的生长缺陷开辟了一条新的途径。
铁电/超导集成薄膜的微结构性质研究
小角X射线散射方法测定二氧化硅干胶凝的平均孔径
三氧化钨薄膜电致变色过程的EXAFS研究
KTiOAsO4晶体的铁电畴与位错的多种实验方法研究
人肝细胞胞质溶胶等电聚焦分离后金属蛋白的同步辐射X-荧光检测
落实“十五”计划,加强能力建设,争取实现电离辐射计量跨跃式发展