简介:总公司科技局:国家技术监督局已于1993年11月发布了新国家标准GB/T1.1—1993《标准化工作导则第1单元:标准的起草与表述规则第1部分标准编写的基本规定》,并已于1995年1月1日起实施,同时代替原国家标准GB1.1—87《标准化工作导则标准编写的基本规定》。该标准是重要的基础标准,它适用于我国各级标准的编写。它的颁布是发展我国社会主义市场经济的需要,是我国标准化工作与国际市场接轨的需要。为贯彻执行好该项新国家标准,国家技术监督局先后发出了技监标函(1994)018号,(1994)061号文。为使我总公司标准化工作适应市场经济发展的需要,并在更大程度上与国际接轨,同时使各级标准编写格式统一。从明年起,凡我总公司内编写的各级标准,均应按GB/T1.1—1993规定执行。为避免过渡期中出现混乱,现对有关问题提出如下意见:
简介:X射线干涉测量技术是以非常稳定的亚纳米量级的硅单晶的晶格作为基本长度单位,以建立纳米级长度基准,从而实现纳米级精度的测量、校验等功能。由于其在纳米测量范围内的特殊优越性,因而近年来该技术得到了迅速发展。该技术的前提是X射线干涉技术的实现。根据X射线干涉的特点,并考虑到X射线的吸收特性,用单晶硅制出了LLL型X射线干涉器件。在北京同步辐射实验室(BSRL)4W1A束线上选择17.5Kev能量的同步辐射光进行了X射线干涉实验,在拍摄的底片上比较清楚地观察到了X射线干涉条纹。