简介：采用闪烁体加光电管，建立了一套X射线功率谱测量系统，在“强光”1号丝阵Z-pinch实验中，获取了喷气和丝阵负载的X光辐射功率波形。实验表明将X光探测器设置在与主测量管道成90°的分测量管道中，并选用ST-401闪烁体或红光闪烁体为X光/荧光转换材料，能使可见光透过闪烁体而不在闪烁体中有沉积能量。实验中X光探测器的电磁屏蔽也得到了解决。

简介：回顾了平行系统理论的提出过程,总结了理论的具体内容,介绍了理论的发展和应用情况。通过分析抗辐射加固系统的特点,认为运用平行系统理论解决抗辐射性能评估难题在理论上是基本可行的。最后,提出了开展抗辐射性能评估平行试验需要重点研究的几个关键问题。

简介：在“强光一号”上对BiMOS工艺运算放大器CA3140进行了瞬时电离辐射效应正交实验,研究了不同因素对CA3140输出端瞬时电离辐射扰动恢复时间的影响,得到了不同因素对恢复时间产生影响的主次顺序和显著水平,以及运算放大器在瞬时电离辐射环境下的最坏因素组合.

简介：在Z-piirch实验中，研制了由闪烁体薄膜、光纤阵列、条纹相机等组成的同时具有时间分辨和一维空间分辨能力的Z-pinch等离子体X光辐射过程空间分布诊断装置，诊断装置沿垂直于负载轴向的方向观测等离子体X光辐射的时空分布。利用狭缝实现X光辐射区域的一维空间分辨成像，通过选择狭缝方向可选择测量X光辐射过程沿负载轴向或径向空间分布。

简介：采用多陷阱的理论方法,模拟了不同剂量率辐照下MOS电容的总剂量效应,分析了氧化层空间电荷场效应与辐照剂量率的关系.研究了氧化层中浅能级陷阱、深能级陷阱对界面俘获电荷和半带电压的影响.研究结果表明,相对于高剂量率辐照,低剂量率在Si/SiO2界面附近俘获更多的空穴,导致产生更大的半带电压漂移;空间电荷场效应是由高、低剂量率辐射损伤差异造成的;浅能级陷阱俘获的空穴主要支配着氧化层电荷的传输特征,被深能级陷阱俘获的空穴是永久性的,是引起器件半带电压漂移的主要原因.

简介：建立了等效基带模型的频域方法,分析了大口径反射面天线微波短脉冲辐射特性,理论推导了辐射场基带波形的重构方法。以Ku波段4.5m口径的单反射面天线为例进行仿真验证,重构出天线主瓣、3dB波束方向、第1,2,3旁瓣的辐射场基带波形。仿真结果表明：在主瓣和3dB波束方向辐射场波形与辐射源基带波形完全一致,但是第1,2,3旁瓣辐射场波形出现轻微畸变。

简介：“第三届全国辐射物理学术交流会CRPS’2018”于2018年7月25日至28日在新疆伊宁召开。本次学术交流会由中国核学会辐射物理分会联合强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室以及国防科技工业抗辐照应用技术创新中心共同主办，中国科学院新疆理化技术研究所、中科院特殊环境功能材料与器件重点实验室以及新疆维吾尔自治区核学会联合承办，主题是推动辐射物理产、学、研、用融合发展。

简介：红外探测器的研究与发展一直是红外物理与技术的发展核心课题，随着探测基本理论发展，军事红外侦察技术也产生更新换代的进步。这些都体现着基础理论的突破带来了工程技术的质的飞跃，体现了理论物理的基础地位。文章以红外探测历史为线过，探讨了军事红外侦察技术的四代历史与物理基础理论的关第。