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  • 简介:总结比较了国内外利用高亮度γ源进行共振荧光(nuclearresonancefluorescence,NRF)研究最新成果,从理论上分析了NRF反应截面,介绍了利用Geant4对NRF过程蒙特卡罗模拟,通过比较不同激发光源下得到NRF实验结果,说明了激光康普顿散射源在NRF研究中优势。介绍了NRF实验中常用背散射探测方法透射探测方法,分析比较了不同探测器性能。最后,展望了未来NRF研究方向。

  • 标签: 核共振荧光 激光康普顿散射源 蒙特卡罗模拟
  • 简介:鉴于高能质子加速器使用受限,且γ射线与物质作用衰减规律同质子与物质作用衰减规律具有相似性,采用^60Coγ射线源开展了质子扫描检测方法原理性实验验证研究。聚乙烯钨组成同心圆环结构检测对象,采用最小步长2.5μm电控平移台控制被测物体移动,用直径8mm铅准直孔获取γ射线细束,并用闪烁体及CCD相机组成透射束斑测量系统,获取透射图像。实验验证及蒙特卡罗模拟得到边界测量结果与真值之间偏差均小于1.2mm,初步验证了扫描检测方法可行性有效性。

  • 标签: 辐射成像 扫描检测 边界测量 原理性实验
  • 简介:近年来,世界各国对纺织品中有害物质含量控制已越来越严格。对纺织品中重金属检测方法现状进行了概括,进一步介绍了X射线荧光在纺织品重金属检测应用。采用X射线荧光检测布样中重金属采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)检测结果基本一致。结果表明:X射线荧光是一种有效纺织品中重金属检测方法,也纺织品中重金属检测提供了一种快速、简便、无损初筛方法。

  • 标签: 纺织品检测 重金属 X射线荧光能谱仪 应用
  • 简介:建立了X射线荧光光谱法测定矿石样品中铀、钍含量快速分析方法。采用高压粉末制样,对不同含量放射性样品压片压力、粒径、含水率、用量等处理条件到进行单因素实验。在400MPa压力下压制,克服了低压制样弊端,制备样片表面光滑、致密,大幅改善了制样重现性,有效地减少了部分基体效应,铀校准曲线标准偏差从0.053%降到0.0071%,钍校准曲线标准偏差从0.062%降到0.0057%。经国家一级标准物质验证,表明方法准确、可靠,能满足样品中铀、钍含量日常分析要求。

  • 标签: X射线荧光光谱法 同时测定 粉末制样
  • 简介:利用静电纺丝法制备了纳米聚乳酸-乙醇酸膜作为氨氮快速检测纸基,采用国标GB7479-87水中氨氮测定标准纳氏试剂显色法原理制成试纸并对试纸制备条件显色条件进行了研究.通过扫描电子显微镜、红外光谱仪进行了表征.扫描电镜观察材料微观结构表明,PLGA静电纺丝材料纤维直径在纳米级别,其表面光滑,粗细较均匀,交织成网状.所制得试纸氨氮检测限为0~50mg/L;浸渍液最佳配比为1.5g氨试剂加入20mL无氨水,加2620g/L氢氧化钾溶液;其中氨试剂(碘化钾∶碘化汞∶酒石酸钾钠∶氯化钠)配比为0.5∶1∶0.5∶30;检测实体水样时,试纸显色深浅随氨氮浓度由低至高呈明显梯度加深,色阶明显.试纸检测结果与国标法测定结果吻合度高,并且数据重现性好.

  • 标签: 静电纺丝 聚乳酸-乙醇酸 氨氮 试纸 快速检测
  • 简介:裂纹是结构组件中最具危险性缺陷,在表面裂纹被探出后,对断裂分析构件修复来说裂纹深度测试是非常重要实际问题。电位检测裂纹深度原理是基于电位探针理论,当被测量金属表面两点间有裂纹存在时,其两点间电阻比无裂纹表面的电阻高。其特点是仅需从试件一侧进行测量而不受背面条件限制,适用于一切导电试件,且由于趋肤效应存在,使交流电位测量精度较直流电位高。

  • 标签: 直流电位法 裂纹深度 导体表面 深度测试 测量精度 结构组件
  • 简介:运用离散变分Xα方法对双金属酞菁(M=V2+、Cr2+、Mn2+、Fe2+、Co2+、Ni2+、Cu2+、Zn2+等)系列化合物进行了量子化学研究,得到了其费米能级。总态密度、前线轨道布居等,讨论了它们催化活性。

  • 标签: DV-X_α法 费米能级 总态密度 前线轨道布居分析
  • 简介:设计了一种测量液晶视角实验装置,通过固定水平角度竖直角度扭曲向列相液晶光透过率测量,得到了视角-对比度曲线。不同水平和竖直视角,其对比也是不同。无论竖直视角大小,水平视角0°时对比最大;当对比大于某一数值(例如50)时,随着竖直视角从20°增加到20°,水平视角范围先增大后减小。

  • 标签: 液晶盒 视角 对比度 扭曲向列相
  • 简介:利用F-2500FLSpectrophotometer荧光分光光度计测定了不同浓度下二苯乙烯三嗪型荧光增白剂(VBL)溶液体系吸收光谱,分析了吸收光谱特性随荧光增白剂溶液体系浓度变化规律,得到了吸收峰值I.(吸收峰值对数Log(Imax))及吸收起始波长S两组新反映荧光增白剂溶液体系浓度敏感参量,并给出了利用该敏感参量进行荧光增白剂溶液体系浓度检测方法.

  • 标签: 荧光增白剂 光谱分析法 吸收光谱 VBL
  • 简介:用PCR方法扩增了人BAF53全长cDNA序列,用酶切后ΔBAF53cDNA片段构建了表达质粒.转化大肠杆菌后,经IPTG诱导表达,再经包涵体裂解、纯化,得到hBAF53抗原多肽.从免疫动物身上获得实验动物抗血清.通过斑点印迹方法测得hBAF53抗血清特异效价,又用已提取HeLa细胞核蛋白(含有天然BAF53蛋白)进行免疫分析,证明天然BAF53蛋白是该抗血清抗原,说明获得抗血清具有比较高特异性,可用于染色体改构复合物各亚基间相互作用分析及调控基因转录机理方面的研究.

  • 标签: hBAF53 多克隆抗体 制备 活性 染色质改构复合物亚基 基因转录调控
  • 简介:应用波长色散X射线荧光光谱对中低合金钢、电工钢、高锰钢、不锈钢中锰元素进行测定。采用经验系数校正元素间增强-吸收效应和光谱重叠干扰,元素检测限为2.1μg/g,线性相关系数大于0.9998。考察了分析方法精密度准确,元素测定结果与认定值一致,相对标准偏差小于2%。

  • 标签: X射线荧光光谱法 锰元素
  • 简介:采用自制电解池作为电化学衍生装置,建立了离子色谱一电化学衍生一荧光测定饮料中酪氨酸。在碱性淋洗液作用下,酪氨酸在阴离子交换柱上被分离,到达自制电解池阳极室,在阳极上被氧化,氧化后产物因具有较强荧光而被荧光检测检测。离子化试剂既可以做色谱分离所需淋洗液,又可以作为电化学反应优良支持电解液,因此,离子色谱电化学衍生具有较好兼容性。最佳实验条件:淋洗液NaOH(10mmol/L)+乙腈(ACN,1+9),流动相流速1.0mL/min,电解池电压1.0V,激发/发射波长320/420NM。在优化实验条件下,酪氨酸线性范围0.01~10mg/L,检出限为1.2μg/L(信噪比S/N=3)。50μg/L酪氨酸标准溶液进样7次,得到色谱峰面积相对标准偏差2.5%。方法具有快速,灵敏选择性好特点,并成功用于饮料中酪氨酸测定。

  • 标签: 离子色谱 电化学衍生 荧光 酪氨酸
  • 简介:应用X射线荧光光谱法测定富锰渣中Mn,Fe,SiO2,Al2O3,TiO2,CaO,MgO,Na2O,K2O,S,P,CuO,ZnO,NiO,BaO15种主次组分。使用混合熔剂在1050℃熔融制备样片,消除了试样粒度效应和矿物效应,同时也解决了S元素在制样过程中容易挥发难题。确定仪器测量最佳参数,研究了熔样条件、校正模式。各元素相对标准偏差(RSD,n=10)≤10%,测定结果与化学法测定值相符。方法快速、准确、方便快捷,具有良好精密度准确性,可用于富锰渣产品品质评价成分分析。

  • 标签: X射线荧光光谱 熔融制样 富锰渣
  • 简介:采用粉末压片建立了X射线荧光光谱法测定铝电解质中氧元素含量方法,通过测定氧元素来计算三氧化二铝含量;重点讨论了样品前处理、粉料颗粒度、保压时间、压片压力等对于超轻元素粉末压片制样影响因素,同时采用二点对氧元素进行背景扣除,运用固定“系数校正基体效应;方法相对标准偏差RSD低于2.00%,方法检出限为163mg/kg,相对分析误差控制在3%以下,误差控制在电解质中氧化铝质量控制允许范围之内。方法用来分析铝电解质中氧化铝组分含量,结果准确,符合生产要求。方法简单、快速、灵敏,能够作为铝电解质中氧化铝有效检测手段。

  • 标签: X射线荧光光谱法 铝电解质 三氧化二铝
  • 简介:详细论述了压片及熔融片法测定钼精矿分析条件。其中压片通过大量采用同一矿区生产样品经化学定值后作为校准样品建立校准曲线,因此粒度效应和矿物效应基本上可忽略。详细地讨论了元素之间线干扰、背景脉冲高度选择。使用经验系数校正基体效应,可准确测定钼精矿中钼、硫、铁、铜、铅、锌等11种元素。在熔融片中主要讨论了元素线选择及其相互之间干扰,经理论α系数校正后,可准确测定不同钼矿中多种元素,其适用范围更广。

  • 标签: 钼精矿 压片 熔片 粒度效应 矿物效应 谱线干扰
  • 简介:探讨了化学探头荧光光谱法测定水中溶解氧关系.分别用F检验t检验对两组数据进行了比较,结果表明两组数据精密度系统误差都没有显著差异,两种方法测定溶解氧相对标准偏差(RSD,n=9)分别为0.35%,0.33%.进而又探讨了溶解氧与NaCl含量、温度之间关系,结果表明溶解氧含量随NaCl含量增加、温度升高而逐渐降低.

  • 标签: 化学探头法 荧光光谱法 溶解氧 显著性差异 F检验 T检验
  • 简介:参数敏感不确定性分析理论方法进行了探讨,在敏感系数基础上所定义积分指标Esum能定量地表示出两个不同核裂变装置相似性,即可用于定量地比较一个基准核裂变实验装置与一个欲评估核裂变装置相似程度。不确定性分析提供了一个计算核裂变系统中由于截面数据方差而导致系统中七疆方差方法,并且也提供了一个计算不同核裂变系统中Keff协方差方法。不确定性分析方法是将截面数据方差信息通过与能量有关敏感系数传播给Keff行。某一材料截面数据方差可以传播给所有含有该材料临界装置。有着相同材料临界装置将产生关联。

  • 标签: 参数敏感度 不确定性分析 实验装置 截面数据 KEFF 临界装置
  • 简介:O482.3195021317P-GaP中离子注入缺陷形成=Formationoftheion-implantationdefectinP—typeGaP[刊,中]/李宝军,张旭(甘肃教育学院物理系.甘肃,兰州(730000))//半导体光电.—1994,15(4).—369—371研究了Zn+离子注入P—GaP半导体所引起缺陷.在电流密度0.03μA/Cm2下,将注入Zn+离子剂量1×1014离子/厘米2GaP样品腐蚀出蚀

  • 标签: 离子注入 半导体 光致发光光谱 电流密度 教育学院 锗酸盐石榴石
  • 简介:O482.3196021361电化学引起Si:Er3+材料1.54μm发光增强=Theanodizationinduced1.54μmluminescentintensificationoftheSi:Er3+material[刊,中]/周咏东(中科院上海技物所),金亿鑫,李仪,蒋红,李菊生(中科院长春物理所)∥红外与毫米波学报。—1995,14(4)。—317—320利用77K红外光致发光实验研究了电化学过程对离子注入Si:Er3+样品光致发光影响。实验结果表明:电化学过程除在Si:Er3+样品硅基质晶体中引入大量深能级局域态外,还使Si:Er3+样品中Er3+1.54μm光致发光效率明显提高,且Er3+发光峰增

  • 标签: 光致发光 毫米波 电化学过程 发光膜 离子注入 光激励发光