简介:采用EDA仿真软件Multisim对预放大与判断电路进行仿真测试,利用此软件的仿真分析功能测试电路的电压传输特性曲线。同时,借助华大电子九天EDA工具(Zeni),设计预放大与判断电路的芯片版图,进而对版图仿真。
简介:从ISAR成像原理出发,分析了散射点越距离单元走动(MTRC)对ISAR分辨率的影响,通过高分辨DFT数据矩阵求逆和AR模型进行方位谱数据外推;对不同的信噪比条件下,两种方法外推前后ISAR像的距离和方位分辨率及相关性作了比较分析:分析表明,方位谱外推的方法可在提高方位向分辨率的同时,有效地克服MTRC对距离向分辨率的降质,从而提高ISAR的成像质量。