简介:为了探索大随机相位误差条件下合成孔径雷达(SAL)成像特点和规律,本文采用波长为1550nm的线性调频激光器建立了能够产生大的共模随机相位误差的条带模式SAL成像实验装置。利用此装置获得了不同目标回波强度下条带模式SAL成像实验数据,结合条带模式相位梯度自聚焦(PGA)多次迭代处理,获得了高分辨率SAL图像。实验发现在[-6.45π,6.45π]范围的大随机相位误差下,通过简单的距离压缩和方位匹配滤波,无法实现SAL图像聚焦,图像信噪比仅为3dB。进一步采用PGA处理,就能很好地校正相位误差,得到聚焦良好的SAL图像,图像信噪比达到43dB。实验还发现,当存在大共模随机相位误差时,PGA处理展现出非常强的鲁棒性,在回波弱到10-15W的情况下依然有效。在大相位误差存在的SAL系统(如机载SAL)中,PGA处理能有效消除相位误差,实现图像聚焦;另外,增大探测激光功率以提高成像数据信噪比,将有助于提升PGA处理效果。
简介:采用燃烧法合成了La1.6(MoO_4)_3:Eu_0.4^3+纳米晶末,研究了其声子一掺杂-晶格相互作用和发光性质。x射线粉末衍射(XRD)分析表明,在500~900℃退火后,La1.6(MoO_4)_3:Eu_0.4^3+样品为单一晶相。对样品进行了光致发光(PL)测量,激发Mo^6+-O^2-电荷迁移带,观察到Eu^3+的系列发光,表明Mo^6+-O^2-带和Eu^3+间存在能量传递,中心波长分别在λ1=469nm和λ2=426nm处的两个one-phonon边带,相应的声子能量分别为767和1202cm^-1,分别对应于Mo=0和Mo-0-Mo伸缩振动。同时,计算了两个局域模电子一声子耦合强度的黄昆因子分别为S1=0.055和S2=0.037,为揭示其三价离子高传导特性及其负热膨胀物理特性提供了实验基础。
简介:在相同的反应体系中当ph值从约9.5调变至11时分别合成出双中孔SiO2和六方中孔SiO2材料,并用XRD、N2吸附、TEM、TG/DTA和FTIR等测试手段对合成产物进行了表征。实验结果表明,双中孔SiO和六方中孔SiO2是合成中必然出现的两种不同的中孔物相。与六方中孔SiO2相比,双中孔SiO2也具有典型中孔材料的特征XRD谱图,虽然仅呈现一个易让人产生不完全晶化误解的相对较宽的单XRD衍射峰(d=5.2nm),但它却给出一种独特的N2吸附等温线和窄的双峰中孔孔径分布曲线。由于孔壁的无定形及表面活性剂分子与SiO2骨架间相似的相互作用,两类材料给出类似的FTIR谱图和TG/DTA曲线。然而,在双中孔SiO2的FTIR谱图中960cm处峰强度的微小变化可能意味着在锻烧脱除模板剂后双中孔SiO2较六方中孔SiO2具有更高的骨架聚合度。更多还原