对于边界扫描技术的电路系统，可利用现代优化算法对其进行复杂性和测试性改善度的综合优化。主要以较小的复杂性设计来实现测试性的最大化改善，以提高系统测试性优化和缩短系统的测试时间。应用模拟退火算法和模拟退火遗传算法实现系统的设计复杂性优化，相比于贪婪算法，模拟退火算法和模拟退火遗传算法能得到更好的优化率。
现代计算机：中旬刊
2014年4期
