针对Nd:GGG激光器,介绍了荧光寿命测试原理,设计了低频窄脉宽荧光寿命测试系统。该系统由光源、光路系统、驱动电路和探测系统等几部分组成。利用脉冲取样技术测试了Nd:GGG晶体的荧光寿命约为250μs左右。
光学与光电技术
2006年4期