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摘要:分析了Fabry-Perot滤波器的工作原理,设计了基于全光纤Fabry-Perot滤波器的光谱检测装置,通过对滤波器中的压电陶瓷施加周期性的锯齿波电压,并采用内置光源对测试光谱进行校准,降低F-P滤波器迟滞效应对光谱检测准确度的影响,实现了1530nm~1570nm波段内的光谱检测,光谱分辨率0.2nm,波长准确度±0.05nm,可满足各类近红外半导体激光光源(如DFB-LD、SLD、FP-LD、LED等)的光谱特性、光纤及光纤放大器的光波传输特性、光纤传感器的反射特性等的L波段测试,与衍射光栅型光谱分析仪相比,具有体型小、测试速度快、成本低和便于模块化生产等优点。
关键词:Fabry-Perot滤波器、压电陶瓷、光谱检测、迟滞效应
引言
随着光电子技术的飞速发展及其在光纤通信、信息存储、光纤陀螺、光纤传感等各个方面日益广泛的应用,对半导体光电器件(如LD、LED等)及其组件、各种光纤和其它光学元件的市场需求量与日俱增[1,2]。众所周知,半导体光电器件及其组件的发射光谱特性、光纤的光波传输特性等是决定其使用质量的主要参数[3,4]。无论是这些光电及光学元器件的科研院所、生产厂家,还是各种用户,都必须对发光器件的光谱特性,光学器件的光波损耗特性等进行测量[5]。本文设计并搭建了基于Fabry-Perot滤波器的光谱检测装置,实现了1530nm~1570nm波段的光谱信号检测,与衍射光栅型光谱分析仪相比,具有体型小、测试速度快、成本低和便于模块化生产等优点。
1 工作原理
本文中使用的Fabry-Perot微腔滤波器的结构示意图如图1所示。输入光纤和输出光纤的两个端面被抛光、镀银,形成两个反射镜, 一个反射镜位置固定,另一个反射镜的背面贴有压电陶瓷,通过改变施加在上的扫描压电,可以移动可调谐法布里-珀罗滤波器中的反射镜来使滤波器的腔长发生相应的缩短或者伸长,在两反射镜之间形成多光束干涉,经过反射镜之间的多次反射,该滤波器可以让与可调谐法布里-珀罗腔长呈现倍数关系的波长的光通过,不符合这个条件的光波就会按照爱里函数进行衰减,最后无法透过滤波器输出[6],从而实现光谱检测功能。
图1 Fabry-Perot微腔滤波器的结构示意图
基于 F-P 滤波器的光谱检测装置框图如2图所示。一路光信号来自内部校准光源发出的1550nm激光,经光开关进入F-P滤波器进行波长解析,输出的光信号由光电探测器转换为电信号,被微处理器控制的ADC采样模块进行数据采集。另一路光信号是外部的待测信号,由光开关控制后进入F-P滤波器进行波长解析,被微处理器的ADC采样模块采集为一系列数据。在系统工作时,通过合理控制宽带光源激光器和光开关的开闭顺序,实现参考信号和待测信号依次分时通过F-P滤波器,扫描两次F-P滤波器,ADC模块进行两次相应的采样从而完成一次测量过程。
图2 基于 F-P 滤波器的光谱检测装置
由于压电陶瓷的迟滞效应、蠕变效应以及非线性的存在,使得驱动电压和波长之间并非严格的线性对应关系,且每组曲线之间存在着差异性,但趋势是一致的。为了能够减小迟滞特性的影响,在多次试验的基础上采用周期性锯齿波来减小迟滞特性[7]。
通过施加具有时间间隔的锯齿波电压,保证整个可调谐F-P滤波器的驱动电压只有上升电压,从而去掉下降电压的位移差的影响,同时由于本身存在的迟滞特性,当驱动电压为零时,其腔体长度并未恢复到初始位置,因此增加相应的扫描时间间隔,保证每次驱动电压扫描都从初始位置开始。为了避免压电陶瓷过热,驱动电压设置为0.5V~18V时,即可完成1530nm~1570nm波段范围内的扫描,扫描频率200Hz。
2 实验结果
本方案选用的F-P滤波器是基于全光纤可调谐法布里-珀罗标准具技术而设计的一款特殊的滤波器。调谐波长范围为1530nm~1570nm,精细度500,3dB带宽0.2nm,插入损耗小于2.5dB,最大输入光功率50mW。
采用Keysight公司的81606A可调谐激光源作为测试光源,其波长可调范围1490nm~1650nm,最大输出功率25mW,波长精度±1.5pm。设置光源中心波长为1535nm,1540nm,1545nm,1550nm,1555nm,1560nm,1565nm。采用F-P滤波器光谱检测装置测得的光谱图如图所示,从图中可以看出,其测得的中心波长分别是1534.96nm,1540.00nm,1544.96nm,1550.00nm,1554.96nm,1560.00nm,1564.96nm。测试波长精度优于0.05nm。
图3 光谱测试曲线图
3 结论
设计了基于全光纤的F-P滤波器的光谱检测装置,通过对滤波器中的压电陶瓷施加周期性的锯齿波电压,并通过内置光源对测试光谱进行校准,降低滤波器迟滞效应对光谱检测准确度的影响,实现了1530nm~1570nm波段内的光谱检测,光谱分辨率0.2nm,波长准确度±0.05nm,可满足各类近红外半导体激光光源(如DFB-LD、SLD、FP-LD、LED等)的光谱特性、光纤及光纤放大器的光波传输特性、光纤传感器的反射特性等的L波段测试,与衍射光栅型光谱分析仪相比,具有体型小、测试速度快、成本低和便于模块化生产等优点。
参考文献:
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