中国第一重型机械集团公司 黑龙江省齐齐哈尔市 161042
摘要:采用电感耦合等离子体发射光谱法测定硅锆合金中铝、锆、钙。以硝酸盐酸混合酸溶解处理试样,氢氟酸除硅,反应完全后,以高氯酸发烟赶尽氟离子,加盐酸溶解盐类。通过选择元素的分析线来优化测试条件,利用基体匹配法消除基体干扰。结果表明,铝、锆、钙元素的测定结果的相对标准偏差为0.40-1.37%,加标回收率99.8%-100.8%。该法能够满足日常分析中对硅锆合金中铝、锆、钙含量测定的需要。
关键词:硅锆合金 ICP-OES法 铝 锆 钙
硅锆合金在冶金、铸造等行业中应用广泛,是炼钢优质的复合脱氧剂,具有脱氧、脱硫、脱磷等作用。我单位在炼铁中也广泛应用硅锆合金。但是,目前硅锆合金中铝、锆、钙的检验都采用湿法检验,该过程复杂,耗时长,且目前尚没有电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法测定的国家标准。
电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法测定范围宽、检出限低、可以同时测定多元素,在合金分析中得到广泛应用[1],作者采用ICP-OES法对硅锆合金中铝、锆、钙进行测定,优化了测试条件,确定了方法的精密度和回收率,测定结果准确、可靠。
1 实验部分
1.1 主要仪器与试剂
等离子体原子发射光谱:ICP6500,美国热电公司;
铝标准溶液、锆标准溶液、钙标准溶液:质量浓度均为1000μg/mL,国家有色金属及电子材料分析测试中心;
实验所用盐酸、硝酸、硫酸、磷酸等试剂为优级纯;
实验用水为去离子水。
1.2 仪器工作参数
RF功率:1150W;积分时间:短波15s,长波:5s ;泵速:50r/min;辅助气流量:0.5L/min;雾化器气体流量:0.7 L/min;样品提升率:1.5 mL/min。
实验方法
1.3.1 样品制备
称取0.5000克样品,置于250mL聚四氟乙烯烧杯中,加入10mL水、10mL硝酸,逐滴加入5mL氢氟酸,在电热板上加热溶解,待试样全部溶解后,加入5mL盐酸,再加热至样品完全溶解至透亮。加8mL高氯酸低温发烟,至溶液还剩2—3mL时,拿下冷却至室温,加20mL(1+1)盐酸溶解盐类,将溶液转移至100mL容量瓶中,用水稀释至刻度,混匀。
标准工作曲线的绘制
称取0.1克高纯铁5份,分别置于200mL聚四氟乙烯烧杯中,按样品制备方法将其溶解,冷却至室温,将溶液转移至100mL容量瓶中,按表1加入待测元素的标准溶液,用水稀释至标线,混匀。利用ICP发射光谱仪测定各元素的发射强度,绘制标准工作曲线。
表1 系列标准工作溶液的配制
分析元素 | 浓度/(μg/Ml-1) | 加入体积/mL | |||||
1# | 2# | 3# | 4# | 5# | |||
Al | 1000 | 0 | 5.0 | 8.0 | 10 | 15 | |
Zr | 1000 | 0 | 5.0 | 8.0 | 10 | 15 | |
Ca | 1000 | 0 | 5.0 | 8.0 | 10 | 15 |
2 结果与讨论
2.1 样品前处理方法
为了便于测定硅锆合金中铝、锆、钙等元素,采用先用硝酸和氢氟酸作为试样溶解用酸,使所有元素均溶解于试样中,其中样品中的硅以四氟化硅状态存在,再加入盐酸高温溶解不溶物同时使四氟化硅挥发出,经过高氯酸低温发烟后,溶液中多余的氟离子被赶尽,试液以固体盐类的形态存在,冷却后再加稀盐酸加热以溶解盐类。结果表明,该方法样品溶解完全,后续测定时元素的发射光谱强度稳定。
2.2 分析条件
2.2.1 分析谱线的选择
ICP-OES测量过程中最主要的影响因素是光谱干扰,由于每种元素都有数条谱线可供选择,所以,选择分析线时应遵循谱线干扰小、灵敏度高、背景低的原则。表2列出了本实验中3种元素的高灵敏度谱线[2],以及有可能存在的干扰元素。
表2 各元素的分析线及干扰元素
分析元素 | 波长/nm | 干扰元素 |
Al | 396.153 | Ce、U |
Zr | 343.823 | Sm、Hf |
Ca | 317.933 | Ru |
由表2可知,选择以上谱线干扰较小,谱线灵敏度高、背景低。
基体干扰的消除
试样经混合酸消解后,溶液中主要成分为铁,因此需要考察铁含量对待测元素的影响。配制质量浓度均为50μg/mL的铝、锆和钙标准溶液,各加入不同量的铁,在选定的分析波长下进行测定,测定结果分别见表3.由表3可知,溶液中大量存在的铁对待测元素的测定结果有一定的影响,随着铁含量(0%-30%)的增加,铝、锆和钙的测定浓度均高于标准值,变化幅度基本一致。因此根据试样中铁的含量范围配制基体相似的校准溶液,可以消除基体的干扰。同时使用耐高盐的雾化器与进样系统,可以防止结盐产生的记忆效应[3]。
Fe质量分数/% | Al测定浓度/(μg/mL) | Zr测定浓度/(μg/mL) | Ca测定浓度/(μg/mL) |
0 | 50.0 | 50.0 | 50.0 |
10 | 50.5 | 50.6 | 50.5 |
20 | 51.1 | 50.9 | 51.0 |
30 | 52.1 | 51.8 | 51.9 |
表3 铁基体的影响
2.2.3背景干扰的消除
背景的存在会使分析线信号测量值产生正的偏离,背景发射强度总是叠加在分析线发射强度上,使分析结果准确度变差。离峰扣背景法是在离峰位置测量背景强度,从而达到扣除背景干扰的目的。在本次检测中,铝、锆、钙元素均采用非峰值背景测量校正法,把分析线近旁的强度作为背景来校正。
测量精密度与回收率
按照1.3实验方法对硅锆合金试样进行连续10次测定,然后进行加标回收试验,回收率与精密度结果见表4.由表4可知,铝、锆、钙元素的加标回收率在99.8%-100.8%之间,测定结果的相对标准偏差在0.40-1.37%之间,满足分析要求[4]。
表5 精密度和加标回收率(n=10)
分析元素 | 标准值 | 加标量 | 测定值 | 回收率 | RSD % |
Al | 1.800 | 1.00 | 2.798 | 99.8 | 1.21 |
Zr | 1.000 | 1.50 | 2.512 | 100.8 | 0.40 |
Ca | 1.350 | 1.00 | 2.351 | 100.1 | 1.37 |
3 结束语
利用ICP-OES法测定硅锆合金中的铝、锆和钙元素,方法简便、稳定,具有良好的准确度和精密度,满足化学成分分析的要求。
参考文献:
[1] 胡玉,唐本玲.电感耦合等离子体光谱法测定镍基高温合金中的硅、锰、铬[J]。化学分析计量,2011,20(4):54-56.
[2] CSM 07 06 40 07-2003 金属功能材料-锆含量的测定-电感耦合等离子体原子发射光谱法.
[3] 辛仁轩.等离子发射光谱分析[M].2版.北京:化学工业出版社,2011.
[4] GB/T20125-2006 低合金钢-多元素含量的测定-电感耦合等离子体原子发射光谱法[S].