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  • 简介:O438.12002021241显示全息图像的噪声和衍射效率=Noiseanddiffrac-tionefficiencyofdisplayhologram[刊,中]/钟丽云,杨齐民,张文碧(昆明理工大学激光研究所.云南,昆明(650051))∥激光技术.—2001,25(4).—283-286较全面地讨论了全息噪声产生的各种来源和抑制办法。指出在拍摄全息时,一般总希望提高衍射效率。但应依据拍摄对象来选择参物比,以求得总的衍射效率

  • 标签: 衍射效率 彩虹全息 激光技术 全息光栅 全息图像 昆明理工大学
  • 简介:O438.12002010371体积全息图的偏振特性=Polarizationcharacteristicsofvolumeholograms[刊,中]/路烁,刘文耀,张以谟,王金涛,陈晓晴(天津大学精密仪器与光电子工程学院教育部光电信息技术科学重点实验室.天津(300072)),刘大禾(北京师范大学物理系.北京(100875))∥光电子·激光.—2001,12(2).—193-196

  • 标签: 全息术 偏振特性 北京师范大学 光电子 体积全息图 衍射效率
  • 简介:O438.12000031816CO2激光局域热固定光折变全息的一种新方法=AnewmethodoflocalthermalfixingbyCO2laser[刊,中]/李建郎,刘立人,郭迎春,周常河(中科院上海光机所.上海(201800))//光学学报.—1999,19(8).—1065-1069提出用CO2激光加热后记录固定的方案对LiN-bO3晶体中的全息进行实时实地局域热固定。通过加载绝热体,利用连续激光加热晶体待固定区域局部范围至接近200℃,停止加热开始记录,至该区域温度降低至100℃时,将固定一个体全息。文中给出了热传导模型及其数值解。由得到的初步结果参数进行了一系列实验,

  • 标签: 局域热固定 激光加热 光折变全息 系列实验 衍射效率 热传导模型
  • 简介:TB87798063673介质厚度和面形对全息图再现象的影响=Influenceofmediumthicknessandprofileonholograms[刊,中]/康明武,杨坤涛(武汉华中理工大学光电子工程部.湖北,武汉(430074))//电光与控制.—1997,(4).—19—22论述了全息元件介质的厚度和面形(厚度变化)

  • 标签: 再现象 平面全息图 光电子 华中理工大学 全息元件 介质厚度
  • 简介:O438.12005021186利用菲涅尔波带法计算三维全息=StudyofCGHfor3DimageusingFresnelzone[刊,中]/张晓洁(浙江大学现代光学仪器国家重点实验室.浙江,杭州(310027)),刘旭…//光电工程.-2004,31(12).-58-60,67根据全息理论,从点光源菲涅尔全息图的计算出发,提出一种利用主菲涅尔波带计算三维物体菲涅尔全息图的方法。通过读取3DS文件直接获得三维物体表面各点

  • 标签: 信息光学 真彩色全息图 数字全息 衍射效率 国家重点实验室 激光全息干涉
  • 简介:O438.12005053582二元计算全息图两种制作算法的研究=Studyontwokindsofbinarycomputergeneratedhologramproductionalgorithms[刊,中]/盛兆玄(第二炮兵工程学院物理教研室.陕西,西安(710025)),王红霞…∥光电子技术与信息.-2005,18(1).-54-56提出基于MATLAB实现计算全息图制作的两种方法,并作了分析比较。对陈家祯等人提出的方法做了两点改进。用这两种方法制出的计算全息图在PC机显示器上进行模拟再现,取得了良好的效果。实验表明两种方法各有优点,用MATLAB绘制计算全息图比传统语言的编程算法更加简单方便。图4参5(杨妹清)

  • 标签: 信息光学 二元计算全息图 衍射效率 空间分辨率 再现像 体全息光栅
  • 简介:TH74297021365光学件质量对高倍显微物镜成象的影响=Effectofopticalelementqualityonhigh-powermicroscopeobjectimaging[刊,中]/戈良辉//江西光学仪器.—1996,(1).—14—15通过光学件质量对高倍显微物镜成象的影响分析,指出了光学件影响高倍显微物镜成象质量的主要因素,为高倍显微镜上批量,上质量指明了方向。(严

  • 标签: 显微物镜 影响分析 成象质量 上质量 应用光学 光学仪器
  • 简介:利用10MeV质子对130nm部分耗尽SOIMOS器件进行辐照,测试了在不同辐照吸收剂量下,器件的辐射诱导泄漏电流和栅氧时击穿寿命等参数,分析了质子辐照对器件TDDB可靠性的影响.结果表明:质子辐照器件时,在Si-SiO2界面产生的界面陷阱电荷,增加了电子跃迁的势鱼高度,减少了电荷向栅极的注入,减小了器件的RILC,增加了器件的TDDB寿命.

  • 标签: 辐射诱导泄漏电流 栅氧经时击穿 可靠性 质子辐照 部分耗尽SOI
  • 简介:利用同步辐射X射线形貌研究晶体缺陷.是近年来发展起来的一种优良的实验方法.本文在研究LNP等晶体缺陷的同时,对这种实验方法进行了系统的探讨,讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗答问题.以及在缺陷研究中对晶体衍射的劳厄斑点的选取依据.

  • 标签: 同步辐射形貌术 晶体缺陷 实验方法 散射光 X射线衍射分析 劳厄斑点