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  • 简介:采用薄层色谱分离菠菜叶片中的色素,并对其胡萝卜素的鉴别和含量测定.以硅胶G作为吸附剂,石油醚/乙醇/丙酮=3/2/1(体积比)的混合溶液为提取剂,石油醚/丙酮=2/1(体积比)的混合溶液为展开剂为最佳条件,提取和分离菠菜色素.菠菜中的胡萝卜素用薄层扫描仪在波长464.5nm条件下进行测定.结果表明,胡萝卜素在0.03~0.21μg范围内呈现良好的线性关系(r=0.9998),加标回收率为95.25%~96.44%,相对标准偏差为0.59%.该方法的重复性、稳定性均满足分析的需要.

  • 标签: 薄层色谱法 菠菜色素 提取剂 展开剂 胡萝卜素含量测定
  • 简介:利用交替方向隐格式研究了一类三维变系数椭圆方程的边值问题,给出了交替方向的推导过程,建立了相应的误差分析,并进行了数值模拟,结果表明,该格式具有易于计算、求解精确度高等优点.

  • 标签: 椭圆型方程 交替方向法 边值问题 误差分析
  • 简介:本文通过离子色谱与柱切换技术联用实现了高浓度样品基体中的痕量阴离子检测。分别研究了不同类型基体的处理方法,使用商品化离子排斥柱和自制的聚合物色谱柱实现多种样品基体中痕量阴离子的检测。同时开发一种简化的单泵柱切换系统,利用抑制器将KOH淋洗液转化为水作为前处理柱的淋洗液,在同一个色谱系统中产生两种淋洗液,实现色谱分离与前处理柱再生同步进行。采用离子排斥柱作为前处理柱分析了有机酸和有机酸盐中的三种常见阴离子,检测限达到0.1~1.7μg/L,方法相对标准偏差小于5%,样品加标回收率在75.2%~114.6%之间;同时采用自制的色谱柱作为前处理柱在同一分析系统中实现多种样品基体中七种常见痕量阴离子的分析,检测限在0.4~2.3,μg/L之间,方法相对标准偏差小于4%,样品加标回收率在88.1%~109.5%之间。该方法使用简便,准确性高,是一种极有利用价值的在线样品前处理技术。

  • 标签: 柱切换 离子色谱 痕量阴离子 复杂基体
  • 简介:阐述了不确定度的A类评定、B类评定和合成不确定度的一般计算方法。由贝塞尔公式计算了杨氏模量实验中各直接测量量的A类不确定度,并根据具体测量条件计算了B类不确定度。分析了杨氏模量不确定度的来源,并提出了改进措施。

  • 标签: 不确定度A类评定 不确定度B类评定 合成不确定度
  • 简介:采用柱后光化学衍生-高效液相色谱法测定了4种中药材中黄曲霉毒素B1、B2、G1和G2的含量.黄曲霉毒素B1,B2,G1和G2的检出限分别为1.65×10-3,5×10-3,1.65×10-3和5×10-3ng;平均回收率为82.2%-89.6%;保留时间的相对标准偏差为:0.56%-0.61%;色谱峰面积的相对标准偏差为:0.27%-0.54%.实验结果表明,该方法灵敏度高,检出限低,重现性好,可以满足黄曲霉毒素的定性和定量分析的法规需要.

  • 标签: 柱后光化学衍生 高效液相色谱 黄曲霉毒素 中药材
  • 简介:采用交替方向思想数值模拟时间分数阶二维扩散方程初边值问题,构造出计算简单且稳定性好的交替方向隐式离散格式。借助傅里叶分析技术,证明了离散格式的无条件稳定性,并证明了格式关于时间与空间具有最优收敛精度。数值实验支持了文中理论结果。

  • 标签: 分数阶扩散方程 交替方向隐式法 无条件稳定 最优收敛精度
  • 简介:应用晶体相场研究大角度晶界在外加应力作用下温度对位错运动的影响。研究表明,大角度晶界在应力作用下会发生形状变化;当变形达到临界应变时,晶界褶皱处产生位错并发射进入晶粒内部;温度较低时,晶界处位错形核所需的临界应变更大。在应力作用下大角度晶界通过改变曲率和位错运动产生迁移,温度较高时有利于晶界迁移。

  • 标签: 晶体相场法 晶界 位错 温度
  • 简介:非破坏分析法部分着重介绍了岩石矿物中铀钍的非破坏性分析方法原理、特点和应用范围。非破坏分析手段主要包括:中子活化分析(NAA)、裂变径迹(FTA)、X射线荧光光谱(XRF)、激光烧蚀光谱(LIBS)和7能谱直接测量。非破坏分析鉴于其独特优势仍有发展空间,LIBS技术是新近发展的具有较大潜力的技术手段,而7能谱直接测量针对铀钍等放射性核素的测量具有无可比拟的发展优势。

  • 标签: 岩石矿物 铀钍 非破坏分析
  • 简介:应用X射线荧光光谱法测定富锰渣中Mn,Fe,SiO2,Al2O3,TiO2,CaO,MgO,Na2O,K2O,S,P,CuO,ZnO,NiO,BaO15种主次组分。使用混合熔剂在1050℃熔融制备样片,消除了试样的粒度效应和矿物效应,同时也解决了S元素在制样过程中容易挥发的难题。确定仪器测量的最佳参数,研究了熔样的条件、校正模式。各元素的相对标准偏差(RSD,n=10)≤10%,测定结果与化学法测定值相符。方法快速、准确、方便快捷,具有良好的精密度和准确性,可用于富锰渣产品的品质评价和成分分析。

  • 标签: X射线荧光光谱 熔融制样 富锰渣
  • 简介:采用粉末压片建立了X射线荧光光谱法测定铝电解质中氧元素含量的方法,通过测定氧元素来计算三氧化二铝的含量;重点讨论了样品前处理、粉料颗粒度、保压时间、压片压力等对于超轻元素的粉末压片制样的影响因素,同时采用二点对氧元素进行背景扣除,运用固定“系数校正基体效应;方法的相对标准偏差RSD低于2.00%,方法的检出限为163mg/kg,相对分析误差控制在3%以下,误差控制在电解质中氧化铝质量控制允许的范围之内。方法用来分析铝电解质中氧化铝组分含量,结果准确,符合生产要求。方法简单、快速、灵敏,能够作为铝电解质中氧化铝的有效检测手段。

  • 标签: X射线荧光光谱法 铝电解质 三氧化二铝
  • 简介:详细论述了压片及熔融片法测定钼精矿的分析条件。其中压片通过大量采用同一矿区的生产样品经化学定值后作为校准样品建立校准曲线,因此粒度效应和矿物效应基本上可忽略。详细地讨论了元素之间谱线干扰、背景和脉冲高度选择。使用经验系数校正基体效应,可准确测定钼精矿中的钼、硫、铁、铜、铅、锌等11种元素。在熔融片中主要讨论了元素谱线的选择及其相互之间的干扰,经理论α系数校正后,可准确测定不同钼矿中的多种元素,其适用范围更广。

  • 标签: 钼精矿 压片 熔片 粒度效应 矿物效应 谱线干扰
  • 简介:探讨了化学探头和荧光光谱法测定水中溶解氧的关系.分别用F检验和t检验对两组数据进行了比较,结果表明两组数据的精密度和系统误差都没有显著差异,两种方法测定溶解氧的相对标准偏差(RSD,n=9)分别为0.35%,0.33%.进而又探讨了溶解氧与NaCl含量、温度之间的关系,结果表明溶解氧含量随NaCl含量的增加、温度的升高而逐渐降低.

  • 标签: 化学探头法 荧光光谱法 溶解氧 显著性差异 F检验 T检验
  • 简介:振动钻削在定心精度、孔表面质量、钻头寿命和出口毛刺等方面,均优于普通钻削。针对其优良的工艺效果,特别是钻入时的高定心精度和小横向偏移等现象,目前尚不能作出最有说服力的解释。为了更加深入地研究振动钻入机理,在继承国内外相关技术成果的:基础上,利用有限元方法对振动钻入的瞬时过程进行了更加深入地研究,以便为将来进一步研究振动钻削加工过程控制技术提供技术支撑。

  • 标签: 振动钻削 动力学特性 微细钻头 有限元法 过程控制技术 定心精度
  • 简介:逐差是牛顿环实验中测量透镜曲率半径的常用数据处理方法。运用Excel软件对牛顿环实验数据计算、绘图和线性拟合,可以提高数据处理的效率,降低实验误差。

  • 标签: 牛顿环 EXCEL 逐差法 数据处理
  • 简介:以尿素为沉淀剂用均匀沉淀直接合成有机阴离子柱撑水滑石(LayeredDoubleHydroxides,LDH)及CoAl水滑石等,并用XRD,FT-IR,TGA,TEM等分析手段对所合成的水滑石进行了表征.结果表明,尿素均匀沉淀可以直接合成有机阴离子柱撑水滑石及CoAl水滑石等,并且可以方便地消除原料中阴离子的干扰,是合成有机阴离子柱撑水滑石及CoAl水滑石等的一个简便快速的新方法.

  • 标签: 柱撑水滑石 直接合成 均匀沉淀法 阴离子 并用 尿素
  • 简介:对单摆运动进行了讨论。通过对单摆进行能量分析,得出了单摆角频率与角度的关系式,然后运用微元,推导出了单摆的理论周期公式。计算结果表明,所得到的单摆运动周期的理论公式与展开公式符合得很好。

  • 标签: 单摆 周期 大角度 理论公式 微元法
  • 简介:在产业经济学中,影响力系数和感应度系数是常用的评价产业部门拉动作用和推动作用的方法。本文针对影响力系数和感应度系数的缺陷,采用主成分分析对投入产出表中的完全消耗系数进行研究,分析产业关联度,以确定国民经济主导产业。最后以中国1997年投入产出表为例进行了分析。结果表明,本方法更加符合实际,具有重要的参考价值。

  • 标签: 产业经济学 主导产业 主成分分析 完全消耗系数
  • 简介:在H2SO4-Te(Ⅳ)-I^-Triton-X-100体系中,利用极谱催化波,不经任何预分离手续,快速直接测定二氯氧错(ZrOCl2)中的微痕量砷。所拟方法简便易行、灵敏准确,与蒸馏分离-ICP-AES法测定砷的结果以及人工合成样的理论值比对吻合;砷的标准工作曲线线性关系良好。砷在0.0~0.2μg/mL范围内与催化极谱波电流值呈线性关系,其相关系数为0.9998;样品加标回收率〉99%;分析结果的相对标准偏差RSD%6%(n=5),已应用于ZrOCl2中的微痕量砷的比对试验,效果良好。

  • 标签: 不分离基体 催化极谱法 二氯氧锆 微痕量砷
  • 简介:提出了一种利用薄膜反射光谱包络线计算光电薄膜光学常数和厚度的方法。当一束光照射在基板上的介质膜上时,由于薄膜上、下界面反射光的相干,会使反射光谱的曲线有一定的波动。本文对反射光谱进行了理论分析,给出计算公式,从测量曲线中的实验值得出薄膜的厚度和光学常数。此种方法计算过程简单、迅速,而且易于编程处理。

  • 标签: 光电薄膜 厚度 光学常数 反射光谱