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22 个结果
  • 简介:利用同步辐射对合成金刚石晶体中面状缺陷进行了形貌学研究。在晶体中观察到多个层和一个由两个层三角形组成的层四面。计算了层及层四面各个边界的方向指数,确定了各个层的面指数。根据层的消像规律.确定了各个层的位移矢量。除一个层为Frank型简单层外。其余层皆为既具有Frank位移,又具有Shockley位移的复合型层。分析了层的形成机理。层尺寸火小在0.68-1.15mm之间,是前人在合成及天然金刚石中从未见到的。

  • 标签: 合成金刚石晶体 层错 同步辐射 方向指数 位移 面状缺陷
  • 简介:利用同步X光透射形貌技术,研究了液封直拉(LEC)、水平布里支曼(HB)、垂直梯度凝固(VGF)三种生长技术制备的Φ2"晶片的位缺陷。发现LEC晶体中缺陷明显高于HB、VGF晶体,VGF缺陷缺陷最低,HB晶体居于两者之间。结合生长界面温度梯度和杂质掺入水平,讨论了位错分布差异的原因。

  • 标签: 位错 X光形貌 GAAS晶体 半导体 生长工艺 液封直拉
  • 简介:利用原子力显微镜,同步辐射X射线形貌术和化学腐蚀光学显微等方法深入研究了KTiOAsO4晶体缺陷中的铁电畴和位。首次用原子力显微镜给出了用两种腐蚀剂腐蚀过的KTA晶体表面的铁电畴和位蚀坑的照片及定量信息,如发现铁电畴的明区要高于暗区,且两者的粗糙度明显不同。这为研究各种晶体的生长缺陷开辟了一条新的途径。

  • 标签: KTiOAsO4晶体 原子力显微镜 同步辐射X射线形貌像 铁电畴 位错 激光倍频材料
  • 简介:本文利用扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)的方法对重闪烁PbWO4微晶进行了研究。通过测量Pb和W的L吸收边的EXAFS谱,主要研究了PbWO4中Pb^2+和W^6+的近邻结构。结果表明,W周围氧离子的配位数和键长没有显著变化,而Pb周围氧配位数和分布则有改变,说明其中可能有间隙氧存在。同时也简要讨论了间隙氧对PbWO4发光的影响。

  • 标签: 重闪烁体 PBWO4 EXAFS 间隙氧 发光 配位数
  • 简介:介绍了一种利用电容法检测两金属之间间隙的方法,开发研制了间隙检测系统。该方法采用合理的屏蔽技术,克服了分布电容和外界电磁干扰对检测系统的影响,检测系统具有较高的检测精度和稳定性,测量不确定度优于0.03mm。

  • 标签: 电容法 间隙 屏蔽技术
  • 简介:本文介绍我们近一年来开展单个流体包裹同步辐射无损分析研究所取得的进展,建立适合分析包裹的微区光斑观测和地准系统,解决样品的制备问题,对一批典型的流体包裹的微量元素分布作了探测,并由较大包裹发展到较小包裹,由定性分析逐步发展到定量分析研究。

  • 标签: 单个流体包裹体 同步辐射 无损分析 微量元素分布 石油 天然气
  • 简介:流体包裹保留了古地质时期流体的原始组成,为矿物形成提供有价值的物理化学信息,对单个流体包裹的无损成分分析,成为国际地学领域的重大前沿课题。同步辐射X射线荧光(SRXRF)微探针以其在微量和微区分析上的优势为这方面的研究提供有力的工具。我们在北京同步辐射装置(BSRF)的3WIA新束线上,用这种微探针开展了单个流体包裹无损分析的实验研究。用特制的狭缝系统,从能量为3.5-35kev的同步辐射X射线中得刮10×10μm^2的微束,通过显微对光调整使它入射到选定的大小适当的单个流体包裹样品上,其所产生的荧光用来确定流体中所含元素的丰度。用NIST612标样,测定了目前实验条件下元素的最小检测限(观测时间为1000秒),检验了这种方法的可行性。在此基础上,对一组典型有机包裹样品分别单个作无损成分分析,给出了K、Ti、V、Cr、Kh、Fe、Ni、Cu、Zn、Rb、Sr、Y、Zr和Pb等14种元素的半定量测试结果,并说明这些结果可用来研究包裹所在储层的沉积环境以及包裹体形成时捕获的油气的母源问题。

  • 标签: 单个流体包裹体 同步辐射X射线荧光微束 无损分析 矿物
  • 简介:本文结合二三公司实际,在对施工企业建立质量、环境和职业健康安全一化管理体系需求分析的基础上,系统地论述了施工企业建立实施一化管理体系的可行性、策划思路和实施步骤,以及实施一化管理体系的效果。并针对体系实施过程中存在的问题,提出了改进的建议。本文所指一化管理体系是指质量、环境和职业健康安全管理体系;所指OHSAS18000即GB/T28000。

  • 标签: 质量 环境 职业健康安全 管理体系 一体化 策划
  • 简介:本文从质量保证体系的构成,质量保证计划的实施等方面讨论了关于氡及其子监测的质量保证的一般性问题,并对如何搞好我国的氡及其子监测质量保证工作提出了建议。

  • 标签: 氡及其子体监测 质量保证 质量保证体系
  • 简介:论文介绍在北京同步辐射装置(BSRF)的实验条件下,用同步辐射X-射线荧光微探针对单个流体包裹作无损成分分析实验探索,包括样品的制备、流体包裹鉴别和选择及在工作平台上对它们作显微对光、进行探测等。在20μm×10μm和10μm×10μm束斑下对几种类型流体包裹作了测试分析,结果表明,矿物包裹与主矿物中所含的微量元素的种类比较一致,只是在含量上有明显区别,它可以指示某种金属矿床和某种伴生矿的存在;而储集层中不同油井和层位的有机包裹中所含微量元素的特征,可用于研究油气的成因和演化。

  • 标签: 同步辐射 X-射线荧光微探针 流体包裹体 无损分析 石油 天然气
  • 简介:本文简述流体包裹研究的意义。介绍在BSRF的实验条件下,用同步辐射X射线荧光微探针对单个流体包裹作无损成分分析实验探索,包括样品的制备、流体包裹鉴别和选择及在工作平台上对它们作显微对光,进行探测等。在20×10μm^2和10×10μm^2束斑下对几种类型流体包裹作了测试分析,并对结果作了讨论。

  • 标签: 同步辐射 X射线荧光微探针 流体包裹体 无损分析 矿物 成矿流体
  • 简介:本实验的目的是研究北京同步辐射装置(BSRF)的XRF实验装置对地质样品中的元素、特别是对轻元素的检测能力,并探讨利用目前这套装置检测流体包裹样品时的若干问题。样品是以国家标准物质GBW07106为基体,加入一定量的NaCl,KCl,混合均匀后压制成的厚样片。测量在BSRF的XRF实验站进行,储存环电流约为40mA。样品与Si(Li)半导体探测器的距离为2cm。同步辐射源的束斑为20×20μm^2。实验在大气条件下进行,采谱时间为200秒。计算了各元素的相对检出限、采样深度、采样量和绝对量检出限(达10^-8-10^-10g);并讨论了现有条件下分析流体包裹样品时的可测量元素范围、包裹深度的测量方法及深度对元素XRF强度的影响,实验设备的最佳几何配置等问题。

  • 标签: 分析 矿物 北京同步辐射装置 同步辐射X荧光法 检出限 流体包裹体
  • 简介:核电厂因为国家、社会、上级或客户的要求,逐渐建立了质量保证体系等多个管理体系,每个管理体系的要求和所负责的部门都不完全一样,造成了很多重复性的工作,甚至同一个活动有不同的描述和不一样的要求。为解决上述问题,文章从核电厂管理体系的演化过程进行分析和研究,指出了集约型一化意义,提出了核电厂集约型一化的可能性和几点建议,可为核电厂集约型一化管理体系建设提供借鉴。

  • 标签: 核电厂 集约型 一体化 管理体系
  • 简介:油砂是储层中显示油气的主要矿物之一。本文描述了柴达木盆地油砂中油气层组N12/N^21单个流体包裹特征.给出了它们的SRXCRF微束无损分析的结果。对同一层位的共同性及不同层位间的变化特点作出了讨论.

  • 标签: 柴达木盆地 油砂层 流体包裹体 SRXCRF 微束无损分析
  • 简介:本文旨在通过蒙特卡罗(MC)理论模拟计算方法来确定地面放射性测量模型标准(Y系列模型源)表面中心点上方不同高度的剂量率/比释动能率,为将我国地面放射性测量模型标准转化为环境电离辐射模型源标准提供理论依据。在建立MC数学理论模型的基础上,采用MCNP模拟计算软件计算Y系列模型源表面中心点上方不同高度的空气吸收剂量率/空气比释动能率,由此,拟合出了能客观反映我国模型源表面上方单位放射性核素含量的空气吸收剂量率/空气比释动能率,并对其计算结果与其它实验方法实测的结果(G(E)函数法、高气压电离室法、TLD法)进行了比对,比对结果在10%内符合;同时对其计算结果的不确定度进行了评定,其合成标准不确定度为3.0%。

  • 标签: MC理论 数学模型 模型体源 空气比释动能
  • 简介:该标准对监测皮肤、四肢和眼球晶状的辐射剂量规程作出说明,通过考虑实际问题,对决定是否需要剂量计以及确保个人监测符合辐射的本质提供指导。该标准适用的辐射情况包括暴露于8keV~10MeV的光子以及60keV~10MeV的正负电子。该标准为监测大纲的设计提供指导,确保符合法定个人辐射剂量限值。

  • 标签: 辐射防护 个人监测 辐射剂量 晶状体 眼球 规程
  • 简介:利用同步辐射(BSRF)漫散射站四圆衍射仪,对SiC单晶的结构进行了判定以及对利用常压化学气相沉积(APCVD)生长的3C-SiC/Si(001)中的孪晶及含量进行了分析。六方{10-15}极图证明了该SiC单晶为6H(H为Hexagonal的缩写)结构。对3C-SiC外延薄膜,Φ扫描证明了3C-SiC外延生长于Si衬底上,外延取向关系为:(001)3C-SiC//(001)Si,[111]3C-SiC//[111]Si。3C-SiC的{111}极图在x=15.8°出现了新的衍射,采用六方{10-10}极图以及基体倒格点111、孪晶倒格点002的Mapping分析了x=15.8°处产生的衍射为3C-SiC孪晶所致,并利用ω扫描估算了孪晶的含量约为1%。

  • 标签: X射线四圆衍射仪 SiC体单晶 3C-SiC外延层 孪晶 APCVD 碳化硅