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206 个结果
  • 简介:基于冗余技术,通过现有车载网络系统的架构,从节点、链路和组件3个层次提出了车载网络系统的可靠设计方法。在综合成本、质量和体积等约束条件下,分析了车载网络系统的冗余规划,设计了基于冗余技术的车载网络系统架构,使网络系统具有高可靠

  • 标签: 冗余技术 车载网络系统 可靠性设计
  • 简介:采用Sn3.5Ag(221℃)Indium8.9T3-83.5%的焊膏,首先做了焊料的可焊试验,随后设计了围框的密封焊试验,工艺样件由Cu80W镀金底板和柯伐镀金围框组成,在270℃恒定温度下,焊接时间2min。最后对焊接后的样件做了X-ray空洞率及焊接层面微观检测分析并测量了IMC厚度。研究结果表明:不仅Sn3.5Ag焊料的可焊好,而且在镀金层上的致密也好,在X光透射下柯伐镀金围框的空洞率低于5%,只是随时可能产生的小气孔会严重影响焊接的密封

  • 标签: Sn3.5Ag 密封焊 可焊性 X-RAY 空洞率
  • 简介:由于产品技术性能和结构要求等方面的提高,可靠问题愈显突出,文章对电子元器件的可靠进行了分析。寿命试验是可靠试验中最重要最基本的项目之一,它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效(损坏)随时间变化规律,寿命测试分析方法采用威布尔型分析方法,根据极大似然估计的不变原则,统计出元件的平均寿命的极大似然估计,另外采用指数分布,属于伽玛分布和威布尔分布的特殊情况,统计产品的偶然失效。实验仿真给出了数据,其目的在于提高电子产品的可靠

  • 标签: 元器件 可靠性 理论分析
  • 简介:用统计学中样本空间排序法对定时截尾可靠鉴定试验方案中平均故障间隔时间(MT—BF)的统计推断方法进行了理论推导,并给出了置信下限和置信上限系数的表达式,对GJB899—1990中的表达式提出了修订建议。

  • 标签: 统计推断 置信上限 置信下限
  • 简介:研究了大型电子系统与其紧缩系统可靠指标之间相关关系。对功能冗余系统可靠指标进行定性定量分析论证,经数学推导建立了二者之间的关系模型,得出相关方程。通过实例分析和工程计算,得到系统失效率与抽样试验样本量的关系图。应用最小二乘估计法估计紧缩系统与总体系统之间的相关系数,确定了大型电子系统与其紧缩系统之间的相关关系。

  • 标签: 大型系统 紧缩系统 可靠性相关 相关系数 计算方法
  • 简介:摘要:本文深入探讨了石油机械在极端环境下的可靠与耐久性问题。随着石油开采领域的不断拓展,石油机械在极端环境(如高温、高压、低温、腐蚀等)下的运行变得越来越常见,这对石油机械的可靠与耐久提出了严峻的挑战。本文首先界定了极端环境的定义与分类,并分析了石油机械在这些环境下运行所面临的可靠与耐久影响因素。接着,通过案例分析和实验测试,本文评估了石油机械在极端环境下的可靠与耐久表现,并提出了相应的提升策略。

  • 标签: 石油机械 极端环境 可靠性 耐久性
  • 简介:针对目前大型电子系统任务可靠评估中,试验样本需求量大,试验费用高、评估时间长,以及评估指标高的特点,提出融合多源验前信息的小样本大型系统Bayes评估法解决这一问题的途径.该方法综合考虑各种因素对大型系统可靠评估的影响,当试验样本较小时仍能做出准确的估计,最后以某型大型电子系统任务可靠评估为例,验证了该方法的可行和有效.

  • 标签: 大型电子系统 可靠性分析 多源信息融合 BAYES方法
  • 简介:当具有诸如分层等可靠缺陷的微电子器件焊接在线路板上,通过回流焊时会产生塑封体裂缝、塑封体鼓胀等重要缺陷。粘片胶未充分固化、水汽未完全排除、环境湿气较大易吸湿等原因导致水汽沿着塑封体与引线引脚向内部扩散。表现为各结合面的分层,粘片胶与芯片之间、塑封体与引线之间、塑封体与芯片之间,各种分层在快速加热产生的热应力下水汽快速膨胀,从而引起器件可靠隐患。

  • 标签: 粘片胶 分层 可靠性
  • 简介:<正>2015年1月28日,VishayIntertechnology,Inc.宣布,发布用于工业电源系统的新系列中性点接地电阻—NGR系列器件。MilwaukeeResistors(VishayDaleResistors的产品线)NGR系列器件由Vishay公司的GRE1高功率、高电流栅极电阻组成,安装在耐用、耐候,具有极高电压隔离的IP23外壳里,具有高线路中性点和系统电压,工作温度可达+760℃。NGR系列电阻能方便地直接替换竞争方案,可为Y形(星形)配置的发电

  • 标签: 中性点 VISHAY 接地电阻 电源系统 星形 接地故障
  • 简介:基于故障物理的电子产品可靠仿真分析方法首先对产品进行故障模式、机理与影响分析(FMMEA),得到所有潜在故障点的故障模式、机理与对应的物理模型.利用产品材料、结构、工艺、应力等参数建立产品的仿真数字模型,并进行应力分析,利用概率故障物理(PPoF)模型进行损伤分析,得到各潜在故障的寿命分布.最后利用时间竞争的原理对其进行数据融合,得到产品故障率、平均故障间隔时间(MTBF)等可靠指标.通过某型单板计算机的可靠仿真过程说明了该方法的实施流程.这种基于故障物理的可靠仿真的方法从微观角度将可靠与产品的结构、材料及所承受的应力联系在一起,有助于发现产品的薄弱环节并采取切实有效的措施,是目前基于手册数据的可靠预计方法的有益补充.

  • 标签: 故障物理 可靠性仿真 FMMEA 损伤分析 概率故障物理
  • 简介:铅和铅的化合物有害人身健康,破坏环境。本文介绍了无铅焊料研究开发的迫切和开发新型无铅焊料应满足的要求。从抗氧化性和提高浸润两方面对SnZn焊料的可靠进行了分析说明。介绍了微合金化和N2对SnZn可靠的影Ⅱ向,并作出了其基本回流温度曲线示意图。

  • 标签: n系列 无铅焊料 研究开发 迫切性 环境 回流
  • 简介:首先,介绍了计算机网络系统运行可靠综合评价的一般分析方法,并以某计算机网络系统历年故障统计数据为例,建立了计算机网络系统可靠综合评价指标体系,并采用层次化结构模型构建可靠综合评价模型;然后,利用层次分析法(AHP)计算获得计算机网络系统的可靠综合评价量化结果,分析了不同网络故障对计算机网络系统可靠综合评价水平的影响重要程度;最后,给出了提高网络运行可靠的措施和建议。

  • 标签: 计算机网络 可靠性 指标体系 层次分析法
  • 简介:文章分析了一例采用金丝热超声键合电路在工艺监控过程中的键合强度检测合格,在高温稳定性烘焙后其引线抗拉强度同样符合MIL-STD-883G方法2011.7的要求,但电路在使用中出现第一顺序键合引脚开路现象。经分析是由于芯片键合区(压点)的材料、结构、键合工艺参数处于工艺下界,以及此类缺陷不能通过键合引线抗拉强度在线监测(包括125℃下的24h高温贮存后的检测)检测出而导致。最后针对缺陷所在,通过改进检测方法、键合工艺设置等消除了键合缺陷,并提高了键合可靠

  • 标签: 键合强度 脱键失效 第一顺序键合引脚 可靠性
  • 简介:文章主要对一种常规的小规模STN—LCD驱动电路在使用过程中出现的可靠失效问题进行分析和讨论,对在干扰环境中工作的集成电路的芯片级的抗干扰和可靠设计提出了一些建议及总结。在实际分析过程中,采用模拟再现实际使用环境进行实验等方式,对电路出现的失效现象进行再现和定位。通过对失效结构的设计线路和失效机理的分析,对具体引起失效的上电复位结构和通信端口结构进行了设计改进。目前,经过实际流片和测试,改进方案通过了验证.

  • 标签: STN—LCD 抗干扰性 上电复位结构 通信端口结构
  • 简介:铜材料引线框架具有良好的导电导热性能,同时具备良好的机械性能和较低成本,但是由于框架和塑封料之间较差的粘结力在回流焊时容易造成封装体开裂。文章研究了铜框架氧化膜的特性,以及氧化膜对半导体封装的可靠影响。根据试验,氧化膜会随着时间温度而增加,当氧气含量低于1%时增加缓慢。当氧化膜的厚度超过20nm时,塑封料与氧化铜之间的结合力就会显著下降,同时交界面的分层也会加剧。最后针对氧化膜厚度受控的产品做回流焊测试,确认是否有开裂,结果表明与结合力测试相符。氧化膜的厚度需要低于42.5nm,可以提高在reflow时的抗开裂性能。

  • 标签: 引线框 氧化 可靠性
  • 简介:机载电子信息系统在外场试飞试验中受到空中和地面两种不同的环境应力,针对以前可靠评估中没有引入环境因子的问题,依据相关文献,给出了环境因子的工程计算方法;利用已有的外场试飞试验数据,对该电子信息系统外场试飞试验的环境因子进行了确定,并对环境因子应用于可靠评估前后的结果进行了比较,表明在可靠评估中引入环境因子,可以节省试验时间.

  • 标签: 电子信息系统 试飞试验 可靠性评估 环境因子
  • 简介:前言:这一课程强调实施无铅焊接焊接的必备知识。包括背景,焊料,表面镀层,元器件,基板,组装工艺,返工和无铅焊接的可靠。此外,还讨论失效模式,挑战和解决办法。

  • 标签: 无铅焊接 组装工艺 可靠性 学术讲座 李宁成 材料
  • 简介:前言:这一课程强调实施无铅焊接焊接的必备知识。包括背景,焊料,表面镀层,元器件,基、板,组装工艺,返工和无铅焊接的可靠。此外,还讨论失效模式,挑战和解决办法。

  • 标签: 无铅焊接 组装工艺 可靠性 学术讲座 李宁成 材料
  • 简介:在转向无铅电子产品过程中,元件供应商可能需要支持无铅和合铅元件的双线生产。而这可能合在生产制造中引起广泛的后勤问题。全部使用无铅元件是这个问题的一个解决方法。因此,用锡铅共晶焊膏粘接的Sn-Ag—CuBGA元件的焊点可靠需加讨论。在这篇论文中介绍了对两种无铅封装:超细间距BGA(VFBGA)和层叠式CSP(SCSP)的焊点可靠评估结果,它们是应用锡铅共晶焊膏贴在PCB板上。而这些封装都是采用不同的回流曲线在标准的锡铅组装条件下组装的。采用合保温区或斜升区的热度曲线。回流峰值温度为208℃和222℃。组装后PCB(称为板级)进行温度循环(-40℃—125℃,每个循环30分钟)和落体实验。下面将会详细叙述失效分析。

  • 标签: 锡铅焊膏 SN-AG-CU 锡-银-铜焊料 可靠性 球栅阵列 无铅封装